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XJTUOM三维光学面扫描系统系统特点

2018/06/19129 作者:佚名
导读: 是集成了三维面扫描和近景工业摄影测量系统的三维扫描系统。XJTUOM面扫描系统和XJTUDP摄影测量系统紧密配合,测量拼接精度更高、使用更方便。采用外差式多频相移三维光学测量技术,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度更高,单次测量幅面更大(从150mm到3米)、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,工件一般不需要喷显影剂,能够测量表面剧烈变化的工件。采用编码点识别相机自标定技术,自主知识
是集成了三维面扫描和近景工业摄影测量系统的三维扫描系统。XJTUOM面扫描系统和XJTUDP摄影测量系统紧密配合,测量拼接精度更高、使用更方便。采用外差式多频相移三维光学测量技术,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度更高,单次测量幅面更大(从150mm到3米)、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,工件一般不需要喷显影剂,能够测量表面剧烈变化的工件。采用编码点识别相机自标定技术,自主知识产权的捆绑调整核心算法,精度更高。多种规格、类型及材质的标定板,标定板和十字架标定采用编码标志点和亚像素图像识别技术,标定精度更高更准确。标定板幅面从150mm×110mm到 3米×3米。单幅测量幅面从200mm到3米,可以测量几毫米到几十米的工件和物体。一台测量系统可同时扫描测量小型、中型、大型工件。面扫描、测量数据密集。单幅扫描一次获得130万~660万的点云,点云的点间距为0.04mm ~ 0.67mm,海量数据测量和处理,测量精度从0.008mm到0.05mm。移动便携式测量。多次扫描自动拼接和重叠面自动删除功能,提高工件扫描效率80%以上,拼接精度更高,与XJTUDP型工业数字近景三维摄影测量系统配合使用提高拼接精度。测量扫描速度快。单幅(最大3米幅面)测量速度为3~6秒。采用外差式多频相移技术,工件不需要喷显影剂、更适合在线检测。系统采用工业化一体化设计,软件一体化集中控制包括激光指示器、工业相机、光栅投射器等所有硬件设备。
*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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