振动一般使用测量加速度 a 的传感器进行检测，而且在正弦振动中，a = 2πfv (1)，v = 2πfD (2)式中:D 为二分之一的振动位移量;v 为振动速度;f 为振动频率 。

可见，加速度与振幅的比例关系是频率的二次方。这就是严普强提到，在低频段微米和亚微米位移难以测量的理论依据。而且，国内振动测量领域仍然以电测法为主， 使用如压电式传感器等方式把振动信号转换为电信号进行测量。但是， 电测法由于机理所限无法检测微米级以下的信号。同时， 利用LabVIEW 平台测振的设计当中， 并没有针对光测法这种高精度测量方法进行相应的算法开发。这一现状导致目前在微幅低频测量的精度一般在 3% ~ 5% 左右， 而无法应用于微机电加工等对精度要求高的领域。光测法是一种非接触式测量， 由于其灵敏度极高， 可以对微小振动进行高精度测量 。

激光聚焦式测头及像散法

像散法是光测法的一种主要手段， 测头照射被测物体表面，通过检测光学像散量达到测量物体微振动的目的。在测量的过程中，当载物平台保持恒定， 振动装置发生振动时， 由于振动台表面与激光测头的原焦点之间的距离发生变化， 激光聚焦式测头重新聚焦到新焦点，输出相应的波形信号。首先要求被测振动物体表面在激光束的焦平面附近， 即通过机械升降台大范围上下移动振动平台，使得振源表面形成聚焦光斑。此时测头通过数据采集卡输入到上位机内的数在 0左右。相对于电测法， 由于光测法是在隔振平台上的绝对式测量，其稳定性更好，可靠性更高 。