薄膜材料分析仪采用专利技术，具备无损检测薄膜材料相变温度以及透光材料热膨胀系数的能力。填补了薄膜材料相变温度及热膨胀系数检测领域的空白。

热分析的起源可以追溯到19世纪末。第一次使用的热分析测量方法是热电偶测量法，1887年法国勒·撒特尔第一次使用热电偶测温的方法研究粘土矿物在升温过程中热性质的变化。此后，热分析开始逐渐在粘土研究、矿物以及合金方面得到应用。电子技术及传感器技术的发展推动了热分析技术的纵深发展，逐渐产生了DTA(DifferentialThermalAnalyzer)技术;根据物质在受热过程中质量的减少，产生了TG(ThermogravimetricAnalyzer)技术，等等。同时，拓展了热分析技术的应用领域，热分析逐渐成为塑料、橡胶、树脂、涂料、食品、药物、生物有机体、无机材料、金属材料和复合材料等领域。并且成为研究开发、工艺优化和质检质控的必不可少的工具。

随着薄膜材料的研究与应用越来越广泛，对薄膜材料的用途、功能等进行客观评价显得尤为重要，薄膜材料、尤其是纳米级薄膜材料的热特性检测领域，全世界还没有一种检测途径，大多采用破坏性测量方法。在中国光谷诞生的世界具备无损检测纳米级膜层材料相变温度及透光材料的热膨胀系数的仪器"OPA光功率热分析仪"填补了业界关于无损测试纳米级膜层材料相变温度及热膨胀系数的技术空白、此项目首创同时测量热膨胀系数和相变温度，大大降低了成本，可获取更多热力学参数。