根据薄膜材料在相变前后光学性质(反射光功率)会有较大差异的特征，采用一束恒定光功率的激光入射样品表面并对其反射回的光功率进行检测，通过计算入射光功率和反射光功率的比值即可确定样品在对应温度点下的反射率，通过分析形成的反射率与温度变化曲线，可以确认样品的包括晶化温度、熔化温度及晶态时不同结构相之间的转变等二级相变温度在内的所有相变温度。本仪器采用的是非接触、无标样参比测量的方式，可以对样品进行保持薄膜结构的无损测量。

针对透光材料及其配套薄膜热膨胀系数的检测。因为设计为一机两用，所以具备与检测相变温度同等的温度控制能力，本仪器采用方法为分析加热过程中总反射光功率随样品温度关联的变化曲线来测定样品的热膨胀系数。整个测试过程为非接触式测量，可消除因样品架等结构件造成的热稳定性差带来的误差，测试精确度较高，还可以直观的反映各温度区间的热膨胀情况。