在单镜头反光相机中，测光元件的放置主要有两种方案:一是放置在取景光路中目镜附近，如图中A、B、C所示，这种测光方式称为TTL一般测光;二是放置在摄影光路中，光线从辅助反光镜或由胶片平面、焦平面快门的叶片表面反射到测光元件上进行测光。

目前相机所采取的测光方式根据测光元件对摄影范围内所测量的区域范围不同主要包括点测光、中央部分测光、中央重点平均测光、平均测光模式、多区测光等。

点测光模式:测光元件仅测量画面中心很小的范围。摄影时把照相机镜头多次 对准被摄主体的各部分，逐个测出其亮度，最后由摄影者根据测得的数据决定曝光参数。

中央部分测光模式:这种模式是对画面中心处约占画面12%的范围进行测光。

中央重点平均测光模式:这种模式的测光重点放在画面中央(约占画面的60%)， 同时兼顾画面边缘。它可大大减少画面曝光不佳的现象，是目前单镜头反光照相 机主要的测光模式。

平均测光模式:它测量整个画面的平均光亮度，适合于画面光强差别不 大的情况。

多区测光模式:它对画面分区域由独立的测光元件进行测光，由照相机内部的微处理器进行数据处理，求得合适的曝光量，曝光正确率高。在逆光摄影或景物反差很大时都能得到合适的曝光，而无需人工校正。