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高压控制系统测试

2018/06/19144 作者:佚名
导读:搭建如图4所示的测试系统来检测控制系统的性能。 该测试系统采用He—Ne激光器作为光源,发出的激光经过反射镜反射后,打到微变形镜镜面上,经过微镜镜面的反射激光由Hartmann波前传感器进行探测,上位机程序根据探测偏差以及测定的微变形镜光学影响函数,计算出要矫正偏差所需的电极电压,通过控制和驱动系统施加给微变形镜电极上,来控制微变形镜矫正畸变波。

搭建如图4所示的测试系统来检测控制系统的性能。

图4

该测试系统采用He—Ne激光器作为光源,发出的激光经过反射镜反射后,打到微变形镜镜面上,经过微镜镜面的反射激光由Hartmann波前传感器进行探测,上位机程序根据探测偏差以及测定的微变形镜光学影响函数,计算出要矫正偏差所需的电极电压,通过控制和驱动系统施加给微变形镜电极上,来控制微变形镜矫正畸变波。

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