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4200-SCS型半导体特性分析系统特征

2018/06/1987 作者:佚名
导读: * 直观的、点击式Windows操作环境* 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA* 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡* 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储* 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能* 内置了Stre

* 直观的、点击式Windows操作环境

* 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA

* 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能

* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡

* 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储

* 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能

* 内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试

* 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备

* 硬件由 Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充

* 包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台

* 支持先进的半导体模型参数提取,包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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