工业目标的测量精度要求常在亚mm级以至更高级别。西方国家近年推出的一系列工业测量仪器，如瑞士徕卡公司的5100A型3维工业测量系统和SMART 310型激光跟踪系统、美国API公司的Tracker Ⅱ型激光跟踪仪以及日本Keyence公司的LC系统和LK系统的激光位移传感器等等，就是应对高精度、高速度的工业目标的检测与放样的需要而问世的。

这类新仪器设备或者能满足大型工业目标的亚mm级精度要求，或者能满足生产流水线上小型工业目标快速（如每秒1 000次的测量频率）和高精度（如

对大型工业目标（如大型军用天线、舰船螺旋桨、桥梁部件等），可使用3维工业测量系统以及联机的电子经纬仪测角装置。

这时，其重要的技术环节是综合利用标准尺的优越长度精度和仪器的优越测角精度，以能精密地测定某些边长。值得注意的是：在短距离的工业测量中，现有的常规测量仪器，其测距精度并不与测角精度相匹配，前者远低于后者。现有的常规测距装置的“随机加常数”达到

相应地，综合使用标准尺和精确的测角性能，则可使测边精度达到很高的级别，并满足工业测量的要求。