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比长仪分类

2022/07/15246 作者:佚名
导读:比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪采用线纹尺作为已知长度,且结构设计符合阿贝原则,称为阿贝比长仪。测量时,先用测量显微镜瞄准被测线条,从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台,再用测量显微镜瞄准另一被测线条,从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。 横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的,这种布局可以缩短导轨长度,但要求导轨精度高。采用爱宾斯坦光学系统,可以

比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪采用线纹尺作为已知长度,且结构设计符合阿贝原则,称为阿贝比长仪。测量时,先用测量显微镜瞄准被测线条,从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台,再用测量显微镜瞄准另一被测线条,从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。

横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的,这种布局可以缩短导轨长度,但要求导轨精度高。采用爱宾斯坦光学系统,可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者,称为光电比长仪;采用激光或其他单色光波长作为已知长度者,分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1~±1.5微米/200毫米,光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米,而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。

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