利用光纤的背向散射光，采用光时域反射计（英文缩写为OTDR），对光纤的若干性能进行测量的一种方式。背向散射技术是将大功率的激光脉冲注入光纤（在不产生非线性效应的条件下），然后在同一端检测沿光纤背向返回的散射光功率。散射主要是由光纤材料密度不均匀等引起介质常数（也就是折射率）分布的不均匀而引起的瑞利散射。

检测到的沿光纤长度各点返回的背向散射光功率一定包含了光沿光纤传输时所遭受损耗的信息，从而可以分析测定光纤的衰减，故称这种方法为背向散射法。其测量原理图和典型记录曲线如图所示。曲线图中①、⑤为输入端和终端的菲涅耳反射，②为均匀段，③是接头或局部缺陷引起的不连续性，④为断裂或介质缺陷反射。通过对测量曲线的分析，可了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等情况。利用OTDR可以测量光纤均匀段的衰减，可以检查光的连续性、物理缺陷或断裂位置，测量接头损耗和位置，测量光纤的长度。无论在工厂实验室、工程现场和维护测试都是很适用的。