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三维微电极微电极结构制备及表征

2022/07/15156 作者:佚名
导读:微电极结构采用 ICP 技术制备。将硅片清洗干净并放入烘箱烘 10 min,溅射 200 nm,铝膜作为刻蚀的掩膜,用 AZ1500 光刻胶转印图案,曝光、显影,腐蚀铝膜,露出刻蚀窗口进行 ICP 刻蚀。 刻蚀工艺参数如下: 腔室温度 40 ℃,硅片温度 25 ℃,射频功率 600 W,电压 300 V,总刻蚀时间 80 min。刻蚀过程中 SF6流量为 150 mL/min,O2流量为 12 m

微电极结构采用 ICP 技术制备。将硅片清洗干净并放入烘箱烘 10 min,溅射 200 nm,铝膜作为刻蚀的掩膜,用 AZ1500 光刻胶转印图案,曝光、显影,腐蚀铝膜,露出刻蚀窗口进行 ICP 刻蚀。 刻蚀工艺参数如下: 腔室温度 40 ℃,硅片温度 25 ℃,射频功率 600 W,电压 300 V,总刻蚀时间 80 min。刻蚀过程中 SF6流量为 150 mL/min,O2流量为 12 mL/min,直流偏置电压为 120 V,功率为20 W,腔内气压 2.67 Pa。淀积过程中的 C4F8 流量为85 mL/min,腔内气压 5.33 Pa 。

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