本项目我们提出了一种静电扭摆方案来测量导体表面电势随时间的波动以及其空间分布。项目期间按照设计搭建了一套静电扭摆系统，并且基于该系统实现了弱力测量与执行机标定技术。目前本系统的导体表面电势测量精度为0.5mV/Hz^1/2，主要受限于自准直仪的分辨率水平。拟采用高精度的电容位移传感方式进一步提高电势测量精度。导体表面电势测量技术与高精度扫描技术仍在实验中。该系统实现了探针的悬挂，放宽了实现系统对待测样品的限制，为今后开展对Patch效应的研究提供了高效的平台。现在实验主要完成了原理性验证，为后续继续开展深入的研究奠定了基础。 2100433B
