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孔率显微分析法

2022/07/16285 作者:佚名
导读:本法通过孔隙二维平面的占有率映射多孔材料的孔率。测量时要求多孔材料样品的观察截面要尽量地平整,如多孔金属和多孔陶瓷的观测截面可采用研磨抛光等方式加以制作,然后由显微镜观测出截面的总面积和其中包含的孔隙面积。 该法测量结果与所取样品截面有关,因此应多测几个截面并提供足够大的截面视场,但其统计效应仍然是比较低的 。

本法通过孔隙二维平面的占有率映射多孔材料的孔率。测量时要求多孔材料样品的观察截面要尽量地平整,如多孔金属和多孔陶瓷的观测截面可采用研磨抛光等方式加以制作,然后由显微镜观测出截面的总面积和其中包含的孔隙面积

该法测量结果与所取样品截面有关,因此应多测几个截面并提供足够大的截面视场,但其统计效应仍然是比较低的 。

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