寿命与可靠性问题是影响LED照明产业发展最为关键的因素。本项目旨在建立针对LED照明系统的可靠性强化机理，指导业界在LED照明系统设计与研发的早期阶段导入长寿命和全寿命周期的理念，研究建立相应的可靠性强化试验方法，从根源上防治寿命和可靠性设计的薄弱环节，提高产品在有效寿命期内抵抗随机故障的健壮度，降低全寿命周期成本。本项目拟以系统的热匹配、互连部分、LED光源作为可靠性强化的三个主要环节，采用HAST设备、HALT/HASS 设备和天然暴露耐候性试验场作为主要手段，结合失效物理分析，系统揭示半导体照明系统可靠性强化试验的技术内涵，探索可靠性强化理论。并通过建立基于多场耦合非线性建模仿真的高加速应力试验方法，优化可靠性强化试验剖面设计，提高缺陷激发效率。最后，采用动态分布参数的Bayes方法，基于可靠性强化试验的小样本数据，研究半导体照明系统可靠性的快速定理分析评价方法。
