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纵向冗余校验介绍

2022/07/16267 作者：佚名
导读：纵向冗余校验的异或校验和可以简单快速的计算出来，将一个数据块的所有数据字节递归，经过异或选通后即可产生异或校验和。由于算法简单，可以快速简单地计算纵向冗余校验。然而，LRC并不很可靠，多个错误可能相互抵消，在一个数据块内字节顺序的互换根本识别不出来。因此LRC主要用于快速校验很小的数据块儿（如32B）。在射频识别系统中，由于标签的容量一般较小，每次交易的数据量也不大，所以这种算法还是比较适合的。

纵向冗余校验的异或校验和可以简单快速的计算出来，将一个数据块的所有数据字节递归，经过异或选通后即可产生异或校验和。由于算法简单，可以快速简单地计算纵向冗余校验。然而，LRC并不很可靠，多个错误可能相互抵消，在一个数据块内字节顺序的互换根本识别不出来。因此LRC主要用于快速校验很小的数据块儿（如32B）。在射频识别系统中，由于标签的容量一般较小，每次交易的数据量也不大，所以这种算法还是比较适合的。

*文章为作者独立观点，不代表造价通立场，除来源是“造价通”外。
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