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超声波扫描主要功能

2022/07/16252 作者：佚名
导读：可用来检测芯片组件内部不同位置的脱层（Delaminaiton）、裂缝（Crack）、气洞及粘着状况，多用于检察芯片封胶内的缺陷。 2100433B

可用来检测芯片组件内部不同位置的脱层（Delaminaiton）、裂缝（Crack）、气洞及粘着状况，多用于检察芯片封胶内的缺陷。 2100433B

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