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高速光学测量系统技术指标

2022/07/16225 作者：佚名
导读：设备应变测量精度：3D≤50με；2D≤10με；应变测量范围: 0.005%~≥2000%；常温应变测量系统噪音3D≤50με； 2.2.2 设备位移测量精度: ≤0.01像素(单相机位移测量精度相当≤300nm@100mm测量尺度)； 2.2.3 设备应变测量尺度范围: 5×5mm至≥5×5m; 2.2.4 图像处理计算速度: >80,000点/秒/CP。

设备应变测量精度：3D≤50με；2D≤10με；应变测量范围: 0.005%~≥2000%；常温应变测量系统噪音3D≤50με； 2.2.2 设备位移测量精度: ≤0.01像素(单相机位移测量精度相当≤300nm@100mm测量尺度)； 2.2.3 设备应变测量尺度范围: 5×5mm至≥5×5m; 2.2.4 图像处理计算速度: >80,000点/秒/CP。

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