2657A有这些优化之处：二极管、FETs和IGBTs等功率半导体器件的高压测试应用以及氮化镓(GaN)、碳化硅(SiC)等新材料及其它复合半导体材料和器件的特性分析。而且，2657A还适于高速瞬态分析以及在高达3000V的各种电子器件上进行故障测试和漏电测试。
类似于2600A系列的其它产品，2657A提供了极高的灵活性、四象限电压和电流源/负载，外加精密电压计和电流计。2657A在一个全机架机箱中整合了多种仪器功能：半导体特性分析仪、精密电源、真电流源、6位半DMM、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载和触发控制器，而且通过吉时利的TSP-Link®技术完全可扩展至多通道、紧同步系统。与功率相对有限的同类竞争方案所不同的是，2657A的源或阱能力高达180W直流功率(±3,000V@20mA，±1500V@120mA)。而且，2657A具有1fA分辨率，甚至在输出3000V高压的同时还能快速、准确地进行亚皮安级电流测量。
数字化或集成测量模式
对于瞬态和稳态特性分析（包括快速变化的热效应）而言，2657A可以选择数字化测量模式或集成测量模式。每种模式由两个独立的模数转换器(ADC)定义：一个用于电流，另一个用于电压，这两个ADC同步工作并在不牺牲测试吞吐量的前提下确保源回读的准确性。数字化测量模式的18bit模数转换器支持1毫秒每点的采样，使用户能同步采样电压和电流瞬时值。反之，竞争方案通常须对多个读数取平均值后得出结果，所以竞争方案的瞬态特性分析速度不够快。基于22bit模数转换器且为整个2600A系列仪器所共有的集成测量模式，优化了2657A在需要最高测量准确度和分辨率应用中的操作，确保了下一代功率半导体器件常见的极低电流和极高电压的高精密测量。
