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SMD电解电容试验方法要求

2022/07/16246 作者:佚名
导读:试验方法及要求 Tests 高温贮存 Shelf Life 105℃ 贮存1000小时后,加额定工作电压30分钟,电容器应满足以上耐久性要求 After storage for 1000 hours at 105℃, UR to be applied for 30 minutes ,the capacitors shall meet the requirement of load life abo

试验方法及要求 Tests

高温贮存

Shelf Life

105℃ 贮存1000小时后,加额定工作电压30分钟,电容器应满足以上耐久性要求

After storage for 1000 hours at 105℃, UR to be applied for 30 minutes ,the capacitors shall meet the requirement of load life above

低温特性

Low Temperature Stability

阻抗比

Impedance Ratio (120Hz)

UR (V)

6.3

10

16

25

35

50

Z(-25℃)/Z( 20℃)

2

2

2

2

2

2

Z(-40℃)/Z( 20℃)

4

4

3

3

3

3

耐焊接热

Resistance to Soldering Heat

在260℃的条件下,电容器在热板上保持10秒,然后从热板上取出电容器,让其在室温下恢复,电容器应满足以下要求:The capacitors shall be kept on the hot plate maintained at 260℃ for 10 seconds. After removing from the hot plate and restored at room temperature, they meet the following requirement.

电容量变化率

Capacitance Change

±10%初始值以内

Within ±10% of the initial value

损耗角正切(tgδ)

Dissipation Factor

≤初始规定值

Not more than the initial specified value

漏电流

Leakage Current

≤ 初始规定值

Not more than the initial specified value

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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