1.标准器：采用高精度光栅系统作为反馈 X 轴向距离的标准器；

2.测量原理：利用头座的测力并使用测帽球面（针对平面物体测量-如量块，校对杆，千分尺，卡规等）接触被测平面，五轴工作台的水平方向浮动，使得尾座测帽球面与被测件另一平面接触；从而测得两测帽球面顶点间的距离；

利用头座的测力并使用平面测帽的平面（针对圆周外径测量，如光面塞规，针规及棒材）接触被测平面，五轴工作台的水平方向浮动，使得尾座测帽球面与被测件另一平面接触；从而 测得两测帽平面间的距离；

利用头座测力并使用平面测帽接触三针使三针与螺纹塞规螺纹槽中径截面点接触，得到平面测帽间的距离，并加上三针针径，使用三针法计算得到螺纹单一中径；

利用 T 型测球与螺纹环规内螺纹槽中径截面点分别接触，得到一组螺纹中截面中径数据，并通过三针法计算得到螺纹单一中径；

3. 数据修正：通过测力修正系统及温度修正系统将 X 轴向光栅反馈的数据进行修正得到正确的 X 轴标准长度数值；

4. 软件标准及数据计算：软件系统内置多个标准，并通过对应标准的数据计算得到检定所需数据（如螺纹的单一中径，量块的标准长度，光面规的真值等。