纳米薄膜热导率测试系统TCN-2ω" style="float: right;" src="a6efce1b9d16fdfaaf51fb81dac69b5494eef01fcd01" data-layout="right" width="500" height="400" owner="qd_China">纳米薄膜热导率测试系统是一款使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统，可以在纳米尺度衡量薄膜的热导率。与其他方法相比，样品制备和测量极为简单。
测试温度：室温
基体材料：Si（推荐）
Ge，Al2O3（高热导率）
样品制备：样品薄膜上需沉积金属薄膜（100nm）
（推荐：金）
薄膜热导率测量范围：0.1～10W/mK
测试氛围：大气2100433B
