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辐射干扰简介

2022/07/16117 作者:佚名
导读:Radio Frequency Interface(RFI) 。这是一种电磁干扰,存在于通讯设备或者计算机操作设备当中,有部份干扰源是藉由设备的线路或无线电天线发射出来,在某些情况下,可能因为振幅 ( 干扰 ) 过大,而造成无线电传输中断或是计算机操作设备故障等问题。 辐射干扰的测试,是检验受试设备通过空间传播的辐射干扰场强。按标准要求应在开阔场地或半电波暗室进行。然而,符合要求的开阔场很难找到,

Radio Frequency Interface(RFI) 。这是一种电磁干扰,存在于通讯设备或者计算机操作设备当中,有部份干扰源是藉由设备的线路或无线电天线发射出来,在某些情况下,可能因为振幅 ( 干扰 ) 过大,而造成无线电传输中断或是计算机操作设备故障等问题。

辐射干扰的测试,是检验受试设备通过空间传播的辐射干扰场强。按标准要求应在开阔场地或半电波暗室进行。然而,符合要求的开阔场很难找到,故一般多在屏蔽电波暗室内测试。测量主要采用天线法和诊断法。

1、天线法

天线法是将辐射干扰信号通过测量天线接收,由同轴电缆传送到测量接收机,并测出干扰电压,再加上天线系数,即得到所测量的场强值。

测量所需的主要设备有测量接收机(或频谱分析仪)、测量天线及予放大器等。利用HP-84110B予测试系统以天线法测试辐射干扰的配置及连接,如图4-3-4所示。

测量要点:

1)辐射干扰的测量受环境的影响较大。而予相容测试的场地条件又不可能完全符合要求,因此,要特别注意对环境电平的监测。测试前,先切断EUT电源,对所关心的频段进行扫描,检查环境电平是否低于极限值6dB。在测试中要能分辨是环境的干扰信号还是EUT的辐射干扰;

2)根据测试的不同要求,在频谱仪上进行正确的配置扫描间隔、天线系数和极限线等;

3)不同的测试频段,应选用不同的天线,如在25HZ-100KHZ频段内测量磁场辐射时,需要采用环形磁场接收天线;对于电场辐射发射则是在10KHZ-18GHZ频段内进行测量,其间需更换不同的天线(10KHZ-30MHZ选用拉杆天线,20MHz~200MHz选用双锥天线;200MHz~1000MHz选用对数周期天线,1-18GHZ选用双脊喇叭天线);

4)不同的标准对测量天线到EUT之间的距离要求不同,如国军标为1m,其它则为3m,10m或30m等,相应的极限值也不同。

5)由于EUT的辐射不可能是均匀的,所以应找出最强的发射部位(是EUT的前面板还是后面板或缝隙等);

6)超出极限线的所有信号,仍需进行峰值和准峰值测量(因为标准规定的极限值多建立在准峰值检波方式的基础上)。对超出极限线的EUT发射信号,进行具体分析和诊断,以便排除故障或修改设计。图4-3-5示出了采用CISPR-A-3m标准的极限线情况下,辐射干扰在30MHz~300MHz范围内的频谱特性。

2、诊断法

除了用天线法以远场接收EUT的辐射发射是否超标外,还可用近场探头对EUT的辐射源进行定位或诊断性测试。

EMI的诊断方法很多,现介绍HP-84110B系统用频谱分析仪与近场探头进行诊断测量的方法。测试连接如图4-3-6所示。图中,近场探头、宽带放大器和频谱分析仪构成了EMI诊断系统。

测试要点:

1)近场探头犹如环形结构的小天线,对EUT磁场源比较敏感,EUT中的电场也会伴随感应磁场,所以,探头接收的信号经频谱仪测量和处理后,以磁场强度表示(单位为dBµA/m);

2)探头小的几何尺寸和端头的绝缘(可达1000V),可以使其直接触及EUT的电路系统。如印制电路板的布线就是典型的磁场源。探头距受试点越近越灵敏;

3)诊断时探头除对EUT电路系统进行搜索外,还应对相关的电缆线、箱体接缝和开口处、CRT面板、键盘、电源线等进行反复的、变换方位的探测,以找出辐射干扰的强点。在测量孔径的辐射时,探头应沿孔的边沿和绕孔旋转,直到耦合最大的场强;

4)根据测试频率的需要,选择不同指标的探头(HP-11941A或11940A);

5)诊断系统需要提高探测的灵敏度时,可加入前置放大器,但在测试结果中应扣除放大器的增益。

6)探头由跟踪信号源驱动,可以作为场源发射,用来测定局域的辐射敏感度。

7)探头设计工艺精细、小巧,电磁兼容操作时应小心,以免损坏。

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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