如果我们统计了过程输出的缺陷数和缺陷机会数，我们就可以计算：

机会缺陷率DPO（Defects Per Opportunity），即每次机会中出现缺陷的比率表示了每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例。由式1计算：

缺陷数

DPO=-----------------　（式1）

产品数×机会数

例1　假定这100块电路板中，每一个电路板都含有100个缺陷机会，若在制造这100个电路板时共发现21个缺陷。

则

百万机会缺陷数DPMO（Defects Per Million Opportunity），DPO常以百万机会的缺陷数表示，即DPMO=DPO×10^6，或由式5-6-4计算：

总的缺陷数×10^6

DPMO=-------------------

产品数×机会数

本例中，0.0021的DPO即为2100的DPMO。

DPMO值可以用来综合度量过程的质量。例如，某印刷电路板的制造工厂在同一条生产线上可能生产不同规格的印刷电路板。每一种产品都有不同的设计，因此，在生产过程中，缺陷机会也不同。但是，不管生产何种规格的产品，都可以统计出现缺陷的数量和缺陷机会的数量，然后用总的缺陷的数量除以总机会数，可以得到DPMO，即使每天的产品种类不同，我们都可以做同样的统计。

在6西格玛管理中常常将DPMO折算为Z。DPMO对应于过程输出质量特性超出规格限的比率，可以通过对正态分布中规格限外的部分求积分而获得。此时，标准正态分布中的分位数点Z，就是过程的西格玛水平。

例2：某物料清单BOM（Bill of Material）上有4个需要填表之处，均可能会发生填写错误，即该BOM有4个缺陷机会：

总的缺陷数×10^6

DPMO=------------------

4×BOM的总数

假如在1376张物料清单BOM上发现41个缺陷，则其

即每百万个机会中有7449个缺陷。查表可得该填写BOM过程的西格玛水平约为3.95西格玛（考虑1.5倍偏移）。