X射线自发现有百年历史，经过许多X射线工作的努力，对其理论已经研究的相当透彻并获得广泛引用。X射线是波长很短的电磁波，在波谱范围表中X射线的波长范围恰好和物质机构单元的尺寸位于同一量级，因此X射线做为物质结构分析和监测手段得到十分广泛的应用。1912年德国物理学家劳厄发现X射线穿过物质的衍射现象，1913年英国物理学家Bragg父子根据晶面反射原理推出著名的bragg定律，从而奠定了X射线衍射的理论基础。通过测定衍射角位置（峰位）可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度（峰强度）可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。
