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X射线光电子能谱分析仪主要功能

2022/07/16168 作者：佚名
导读：主要用于对样品表面进行元素种类测定、同种元素不同化学状态定性及定量分析等方面的表征。XPS的工作原理是用光子能量在1000～1500ev之间X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来成为光电子，测量光电子的能量，以光电子的动能/束缚能binding energy,(Eb=hv光能量-Ek动能-w功函数)为横坐标，相对强度（脉冲/s）为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得试样表面化学

主要用于对样品表面进行元素种类测定、同种元素不同化学状态定性及定量分析等方面的表征。XPS的工作原理是用光子能量在1000～1500ev之间X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来成为光电子，测量光电子的能量，以光电子的动能/束缚能binding energy,(Eb=hv光能量-Ek动能-w功函数)为横坐标，相对强度（脉冲/s）为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得试样表面化学状态的有关信息。 2100433B

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