荧光光谱仪测定炼钢用铝条试样中

用普通单晶x射线荧光光谱法(xrs)测定了玻璃中al.ti和zn的配位数,对al进行了定量分析。在alpo_4·na_2o玻璃中,al主要以4,6混合配位形式存在,a1%比值升高时,6配位逐渐向4配位转化。在na_2o·sio·b_2o_3·tio_2玻璃中,ti主要以4配位形式存在。在na_2o·zno·b_2o_3玻璃中,zn主要以4配位形式存在。

利用普通单晶X射线荧光光谱仪测定玻璃中金属元素的配位数

使用arl3460型直读光谱仪测定硅钢中氮的含量。研究了合适的分析条件及确定了分析样品的制备要求,调整、制作出能够准确测定氮含量在0.0080%～0.0130%的工作曲线,进行了准确度和精密度的测试,将生产试样分别采用光谱法和leco-tch600气体法进行对比,实践表明分析结果准确,符合国标分析允差要求。

由于我国材料技术的发展,工业企业对材料化学成分的控制要求越来越高。但企业所沿用的传统的化学分析方法分析速度慢,分析范围小,不能满足现代化的要求。而光电直读光谱仪以分析速度快、准确度高、操作简单、分析范围广等优点正在取代化学分析法。

题名：光栅光谱仪测量分析光源的光谱特性 作者：姓名：沈鹏飞 学号：08281049 单位：北京交通大学计算机与信息技术学院 摘要： 光栅光谱仪是目前比较先进的进行光谱测量和分析的仪器，也是目前光谱测量中最为 常用的仪器，操作简单、方便，结果准确，应用广泛。本文主要讨论利用光栅光谱仪测试 光谱的方法及原理。 gratingspectrometeristhemoreadvancedspectralmeasurementandanalysisinstruments, iscurrentlythemostcommonlyusedspectralmeasurementinstruments,simpleoperation, convenient,accurateandwidelyused.thisarticlefocusesonthe

以标准样品及人工配制校准样品共同绘制校准曲线,无需对石灰石中的碳酸盐进行烧损校正,直接采用无水四硼酸锂熔剂熔融石灰石样品,以x射线荧光光谱法测定石灰石中cao、mgo、sio2、al2o3、fe2o3含量。探讨确定样品与熔剂的稀释比例为1∶10;预熔温度为900℃,时间为80s、熔融温度为1100℃,熔融时间为300s;无须进行烧失量及基体干扰校正,可直接测定石灰石中5种主要成分。对石灰石测定成分进行了精密度考察,结果的相对标准偏差(n=10)在0.28%~4.9%之间。采用方法对石灰石标准样品及实际样品进行测定,结果与认定值或其他方法的测定值相吻合。

汞是一种剧毒化学物质,对环境的污染非常强,同时也是可引起人体器官和大脑损伤的神经毒素,所谓的"水俣病"即是汞污染造成的病症,人体受到过量汞的污染甚至还会致死。随着国家节能减排、绿色照明以及"逐步淘汰白炽灯"相关政策的实施推广,荧光灯行业保持着高速增长。随着节能灯推广数量的不断增加,节能灯报废后的汞污染越来越引起人们的关注。政府和消费

用硝酸-硫酸-高锰酸钾在高压锅中溶样,采用氢化物发生原子荧光光谱法测定建筑用粘合剂中汞。相对标准偏差为4.3%,回收率为87.6%—106%。该方法快速、简单、准确。

本文介绍了一种利用x-射线荧光光谱仪测定石灰中各物质含量的方法。该方法操作简单,能够快速、准确地测定石灰成分,目前在我公司得到普遍应用。

instrumentationandequipments仪器与设备,2015,3(4),135-141 publishedonlinedecember2015inhans.http://www.hanspub.org/journal/iae http://dx.doi.org/10.12677/iae.2015.34020 文章引用:高国华.帕纳科pw2440荧光光谱仪高压发生器的电路分析和故障维修[j].仪器与设备,2015,3(4):135- 141.http://dx.doi.org/10.12677/iae.2015.34020 circuitanalysisandmaintenanceof high-voltagegeneratorof panalyticalxrfspectrometer guohua

建立了应用波长色散x射线荧光光谱法测定高锰钢中锰元素的分析方法,实验确定了仪器最佳工作参数。通过背景扣除和干扰校正系数法消除基体干扰和共存元素cr、p的光谱干扰,采用经验系数法建立工作曲线,线性相关系数为0.9998。实验结果表明,方法的检出限为2.1μg/g,方法分析范围为1.00%～20.00%,测定结果与标准物质的认定值一致,相对标准偏差小于0.200%,该分析方法快速、准确,满足高锰钢中锰的分析精度要求。

应用能量色散——x荧光光谱法中无标样基本参数法定量测定高速工具钢中铬锰钨钼钒等主要合金元素。从制样、采谱条件、谱处理方法等方面进行试验和讨论,通过对测定结果进行统计分析,此方法有较好的精密度和准确度,测定偏差在化学分析法允许范围内,是一种简便、快捷、有效的测试方法。

常用钢材中,硫、磷属于有害杂质元素,硫元素增加钢铁产生"热脆"倾向,磷元素增加钢铁产生"冷脆"倾向。因此,钢材中的磷、硫含量通常要求被严格控制。以压力容器用钢材为例,碳素钢和低合金钢中磷含量要求不大于0.035%、硫含量要求不大于0.035%;低温用钢更为严格,磷含量要求不大于0.020%、硫含量要求不大于0.010%。

通过氢化物发生原子荧光光谱法测定不锈钢样品中痕量砷,采用on-guardh柱去除消解液中重金属,避免了共存金属元素和大量基体元素铁对砷测定的干扰,且on-guardh柱对测定无明显干扰。结果表明:砷检出限为0.02μg/l,采用该方法测定不锈钢标准样品,测定结果与理论值相符合。该方法操作简单,且大大提高了不锈钢中痕量砷测定的灵敏度和准确度。

X射线荧光光谱法测定烧结矿中硅钙镁锰硫铁铝

采用粉末直接压片,波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中sio2、al2o3、tfe2o3、cao、mgo、pb、zn等7种成分。根据含金石英石中sio2的含量范围,选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准样品,采用化学法准确定值,确定了仪器的最佳分析参数。对于si和al轻元素,荧光强度随粒度变化较为显著;制作的校准样品应密封保存,粉末压片后需马上进行测试。方法操作简单,成本低,测定范围宽,灵敏度高,精密度(rsd,n=11)均小于2.5%。与化学法对照,结果符合较好。

以四硼酸锂为熔剂，采用1：11为熔剂稀释比，于1050℃熔融硅质耐火材料样品，制成玻璃样片，采用波长色散型x射线荧光光谱仪同时测定样品中sio2、a1203等多元素，用硅石标准样品经同方法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线。制取7个平行样片测定各组分含量，数据吻合较好，该方法能够满足日常分析需要。

选用石灰石标准样品,采用粉末压片法制样,建立测定石灰石中cao、mgo、sio_2的x射线荧光光谱分析方法。确定了最佳分析参数,建立了标准曲线,并采用数学模型校正基体效应。通过准确度与精密度的试验表明,分析结果准确,重复性好。

建立了以六次甲基四胺-盐酸溶液褪去镀锌层后用还原分离-原子荧光光谱法测定镀锌板涂镀层中痕量汞的方法。研究了六次甲基四胺用量、溶液酸度对测定的影响,优化了硼氢化钾浓度、灯电流、光电管负高压、屏蔽气和载气流量、原子化器高度、原子化器温度、试样注入量等测试条件,并对共存元素干扰情况进行了考察。研究结果表明,在灯电流为10ma,负高压为-320v,载气流量为400ml/min,屏蔽气流量为1000ml/min,原子化器高度为8.0mm,积分时间为10.0s,断续流动注入溶液为1.0ml,载流溶液为盐酸(1+19),以20.0g/l硼氢化钾浓度(含5.0g/l氢氧化钠)为还原剂的条件下进行测定,荧光强度与汞浓度在0.20～40.0ng/ml呈良好线性关系。汞的检出限为0.10μg/g,样品测定结果的相对标准偏差为1.3%,加标回收率在98%～100%之间。

以四硼酸锂为熔剂，采用1：11为熔剂稀释比，于1050℃熔融硅质耐火材料样品，制成玻璃样片，采用波长色散型x射线荧光光谱仪同时测定样品中sio2、a1203等多元素，用硅石标准样品经同方法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线。制取7个平行样片测定各组分含量，数据吻合较好，该方法能够满足日常分析需要。

使用粉未压片法制取样品,x射线荧光光谱法测定大理石中氯含量。确定了方法最佳测定条件,该方法操作简便,分析速度快,条件易控制,氯元素的相对标准偏差(rsd)为5.7%。经大量实验证明,采用本方法测定,分析时间短,准确度较高,结果令人满意。

提出采用x-射线荧光光谱法测定石灰石中cao、mgo含量。将石灰石样品进行磨细处理,在压片机上制成样片。在x射线荧光光谱仪上按照选定的分析条件,以标准样品做工作曲线,根据工作曲线测定样品含量。通过与国家标准化学法对照,分析结果基本一致。该方法简便、快速、准确、重现性好。