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存储过程测试
LED灯具寿命测试过程
按照标准要求： LED灯具寿命测试过程 :可以分成加速寿命测试和控制测试（即常温下常亮测试） 加速寿命测试的一个周期分为四个步骤： 1、在 85℃和 85%RH环境下进行测试，灯具开一小时，关一小时。共计六小时 2、冷热冲击试验： 从 -50℃到 120℃进行冷热冲击试验，在每个极值温度下保持 30 分钟进行测试。灯具点 亮时间周期与温度变化周期是不一致的。具体的可参见下图。冷热温度切换时间不得超过 5 分钟。 3、在 85℃和 85%RH环境下进行测试，灯具开一小时，关一小时。共计六小时 4、在 120℃高温下工作 15 个小时，灯具开一个小时，关一个小时。 一个加速寿命测试循环周期为 42 个小时，当一个加速周期完毕后， 我们进行灯具的光度 和色的测试， 光度用于评价是否已经失效， 而色度是用于监控辅助， 并不真正进入的失效评 判依据之中。标准中推荐采用一个 45公分直径的小积分球配合
基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计
基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计
为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性,提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术,研究基于TCL脚本语言的存储器测试脚本设计方法,用以在进行存储器簇测试时描述存储器自身的读写特性及与其外部边界扫描测试单元的连接关系等,并给出HY6264SRAM静态存储器功能测试的例子。通过测试验证,使用TCL脚本语言与高级语言联合编程能够提高边界扫描测试软件的工作效率。
