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集成电路测试仪

2025.01.11

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集成电路测试仪
基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计 基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计

基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计

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设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点。

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设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点。

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