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集成电路动态测试仪
集成电路测试
第一章 集成电路的测试 1.集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测， 通过测量对于集成电路的输出回应和预期 输出比较， 以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程， 是验证设计、 监控生产、 保证 质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理 输入 X 输出回应 Y 被测电路 DUT（Device Under Test）可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入 x 和网络功能集 F（x），确定原始输出回应 y，并分析 y是否表达了电路网络的实际输出。因 此，测试的基本任务是生成测试输入， 而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器 件，并分析其输出的正确性。 测试过程中， 测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测 器件的原始输入管脚， 第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应， 最后经过分析处 理得到测试结果。 3.集成电路故障与测
基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计
基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计
设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点。