精品文献
三维测量
光栅投影相位法三维测量
光栅投影相位法三维测量
利用结构光进行三维测量或场景再现是图像处理领域的重要应用,结构光的编码与构造是进行以上工作的基础。文章首先讨论了建立三维测量系统的方法,然后重点介绍了光栅投影相位法实现三维测量的原理与应用方式。通过该方法,实现对较大表面物体的测量与三维重构。
应用于三维测量的彩色编码相位求解技术
应用于三维测量的彩色编码相位求解技术
基于相位投影和双目的三维光学测量系统已经广泛应用于各领域。针对雷格编码的相位解包裹技术需要投射的编码结构光幅数比较多,不利于对微动或者人体进行测量的缺点,探讨了一种基于彩色编码光进行相位求解的技术。该技术采用四位二进制彩色编码结构光得到相位周期;再结合由四步相移技术得到的相位主值[-π,π];最后,将两者结合得到真实而准确的绝对相位。实验证明,该方法大大减少了结构光投射的幅数,能快速而准确地得到真实的绝对相位。
