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机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)
对X射线波长进行分析的仪器。
X-ray analyzer
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由...
伽玛射线与X射线探伤除了传感器的区别外,最大的区别就是放射源:一个是采用放射性物质作放射源,一个是X射线发生器为放射源;一个是只要暴露就有射线辐射出来,而另一个设备不通电工作就完全没有辐射危险;所以,...
仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻...
X射线分析器
X射线测厚仪在镀锌线生产线的应用
为了提高镀锌产品质量及降低生产成本,锌层厚度在线测量技术在近年来得到了快速的发展。首钢京唐公司两条热镀锌机组使用了目前钢铁行业中最先进的镀层厚度测量系统,即X射线荧光冷态镀层测厚仪测量系统。可以使用X射线荧光测量法来稳定快速的测量带钢表面的镀层厚度,这样冷轧镀锌处理线所要求的高速和自动化生产均可得到充分满足,所以该方法不仅在我厂还在国内外个大钢厂的冷轧镀锌处理线上得到了广泛的应用。以首钢京唐公司热镀锌机组的安装调试及其实际应用为例,通过将X射线荧光测量技术的原理和处理线处的选型以及最佳安装位置等相结合进行分析,对X射线荧光测量技术进行一个较为全面的工程应用的介绍。
PerkinElmer发布新型X射线探测器
PerkinElmer光电公司推出了一种高速度、高数据传输的数字X射线探测器,应用于工业和医学领域,如:管线检测、诊断及治疗医学成像等。这种无定形硅基(a-Si)数字X射线探测器能提供30fps拍摄速率、16bit分辨率的实时图像。该探测器能抗
X射线仪,是一种用来产生X射线的设备。
X射线仪可以分为工业用X射线仪和医用X射线仪。工业用X射线仪可以按照产生射线的强度分硬射线机和软射线机。用于理化检测的衍射分析仪等属于软射线,而用于大,厚材料的检测的是硬射线。硬射线的产生可以用高压电的办法,如100Kv 或300Kv的电压加到x射线管字上,产生的射线可以穿透5--50mm的钢板。而用电子加速器的办法可以产生穿透100mm以上的钢板的射线。使用高压电办法的机器可分为,便携式,和移动式(固定式)。
X射线仪原理、构造及发现:1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时,偶然发现距离玻璃管两米远的地方,一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验,用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书,都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是,当用手去拿这块发荧光的纸板时,竞在纸板上看到了手骨的影像。当时伦琴认定:这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理,不明它的性质,故借用了数学中代表未知数的"X"作为代号,称为"X"射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。工业射线机正是使用了这种特性,利用高压变压器加在两个金属电极上的高压产生射线。X射线仪用于航天,石油建设,天然气管道,锅炉,压力容器等无损探伤中不可缺少的设备。
怎样根据需要去购置合适的,既经济又实用的X射线探伤机,就必须正确地选择X射线探伤机。一般选择X射线探伤机都要考虑穿透能力、X射线管焦点大小、被检工件形状等。
X射线探伤机的穿透能力取决于X射线探伤机的容量,既X射线探伤机的管电压,管电压愈高,X射线愈硬,能量愈大,穿透能力就愈强,穿透能力与管电压平方成正比。另外,在相同的管电压下,还与被检验工件的材质的密度等性质有关,也就是与被检验工件对X射线的衰减能力有关。对于钢铁等重金属以及较厚的工件,由于其对X射线的衰减能力较强,故应选择管电压较高的X射线探伤机;而对于铝、镁等轻金属和较薄的工件,可以选择管电压较低的X射线探伤机。
对于圆形的工件,如锅炉简体或容器上的环焊缝,应首先考虑选择周向曝光的射线探伤机,以提高工件效率,减轻劳动强度,减少放射线损伤。
对于工件较小,移动方便的,可选用移动式探伤机(固定式)X射线探伤机,而对工件笨重或高大设备,移动不方便,可选用携带式X射线探伤机。
X射线探伤机英文名称X-ray Flaw Detector
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种,并已编制成计算机程序。从解X 射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积(峰计数),根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。
在实际分析工作中多采用相对测定法,即将试样和标样同时分析比较,
设试样和标样中待测元素的特征X 射线谱峰计数为NX 和NS,含量为Wx 和WS则得:
Wx=NxWs/Ns