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高分辨法

高分辨法(high resolution methods)一种差分格式,指用于计算含激波的流体力学问题时,激波过渡区限制在数目很少(两三个甚至一个)网格内的差分方法.哈坦(Harten , A. ) (1983)发展的二阶TVD格式,范利尔(Van leer, B. ) (1979)发展的Muscl格式都是著名的高分辨方法。

高分辨法简介

高分辨法(high resolution methods)一种差分格式,指用于计算含激波的流体力学问题时,激波过渡区限制在数目很少(两三个甚至一个)网格内的差分方法.哈坦(Harten , A. ) (1983)发展的二阶TVD格式,范利尔(Van leer, B. ) (1979)发展的Muscl格式都是著名的高分辨方法。

高分辨法具有如下特点:

1.激波过渡区陡峭,不产生非物理振荡.

2。在解的光滑区域,至少有二阶精度.

3.无需预先确定人工粘性,具有自适应耗散性.

此外,虽然在一般光滑解区差分解能达到二阶精度,但在光滑区的局部极值附近格式退化为一阶格式,数值解中会削去局部极值的峰值,造成较大误差;在接触间断计算中,接触间断的宽度也仍会随时间的发展而增加。因此,这两个方面是该类计算格式中需 要加以解决的问题.2100433B

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高分辨法造价信息

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高分辨法常见问题

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高分辨法文献

高分辨率影像建筑物提取方法对比 高分辨率影像建筑物提取方法对比

高分辨率影像建筑物提取方法对比

格式:pdf

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页数: 2页

与传统的信息提取方法相比;将机器学习算法应用到遥感影像信息提取中;可以提高结果的精度;文章以WorldView-2遥感影像为例;首先利用多尺度分割选取最优分割尺度;获得影像对象;在基于对象的基础上利用特征空间优选工具获得最优特征子集;最后利用J48算法、随机森林算法对建筑物提取的效果进行分析;实验结果表明:J48算法在高分辨率影像建筑物提取中有更好地效果;

高分辨电法仪工作原理及在煤矿施工中的应用 高分辨电法仪工作原理及在煤矿施工中的应用

高分辨电法仪工作原理及在煤矿施工中的应用

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大小:1.1MB

页数: 未知

主要介绍了采用高分辨电法仪对白音乌素煤矿斜井掘进前方含水性进行探测的方法及原理。查明井巷裂隙水的分布规律与特点,以物探与钻探相结合,物探探明钻探验证,既保证了掘进安全,又提高了工效。

高分辨率地震勘探地震分辨率

地震勘探区分两个邻近地质体的能力。地震分辨率可分为垂向分辨率及横向分辨率两类。①垂向分辨率,指可区分的地质体最小厚度。②横向分辨率,又称水平分辨率,指可区分的最窄地质体的宽度。

不少学者从不同角度研究垂向分辨率,提出了维代斯 (widess) 准则、瑞利 (Rayleigh) 准则、雷克(Ricker)准则(图1)。一般认为,垂向分辨率大约等于1/4~1/8优势波长。

在水平叠加剖面上,任一时刻反射振幅是相应反射点及其附近第一菲涅尔带内所有点绕射振幅的叠加。水平叠加剖面进行地震偏移处理后,将地震波场向下延拓,直到t0=0。相当于将检波器下降到反射界面,理论上使菲涅尔带有效地缩小到一点。这样,在叠加偏移剖面上,横向分辨率△H只与空间采样率(道间距)、噪声及偏移过程有关。

影响地震分辨的主要因素是地震子波 (延续长度仅1~2个周期的地震脉冲)的波长、优势频率与地震波速度。其次,也与地震子波频带宽度和地震子波类型有关。在无噪声条件下,地震子波优势频率越高、频带越宽,则分辨率越高。在振幅谱相同时,零相位子波的分辨率最高。随着探测深度的增大,地震波速度增大,介质吸收作用使高频成分衰减,频带变窄,优势频率降低,地震分辨率也不断降低。噪声也是影响地震分辨率的另一个重要因素,分辨率随信噪比(某一时刻有效信号能量或振幅与噪声等所有剩余能量之比值) 的提高而提高。①信噪比为1时,分辨率相当于无噪声时的50%。②信噪比为2时,分辨率提高到80%。③信噪比为4时,分辨率提高到94.1%。④当信噪比小于1时,提高信噪比就成为改善分辨率的关键。⑤当信噪比大于2时,则再提高信噪比对提高分辨率意义不大。在信噪比足够高的条件下,提高地震分辨率的途径是激发和记录频率高、频带宽的地震信息,并在处理中给予保护,适当补偿高频成分,改善地震子波。

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高分辨率地震勘探介绍

分辨率比一般地震勘探方法更高,能区分更小地质体的反射波法地震勘探技术。它的工作频率较高,频带较宽,虽能提高分辨率,但穿透深度减小。

高分辨率地震勘探始于20世纪70年代。1977年,在英国煤田试验并取得成功。中国于1982年在煤田地震勘探中开始试验,1985年推广应用。同时,扩展到石油地震勘探及工程地震勘探领域。

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材料评价的高分辨电子显微方法书籍目录

第1章 高分辨电子显微方法的基础

1.1 透射电子显微镜的原理

1.2 电子散射和傅里叶变换

1.3 高分辨电子显微像的形成

1.3.1 薄膜试样的高分辨电子显微像

1.3.2 电子显微镜的分辨率

1.3.3 厚度样的高分辨电子显微像

1.4 高分辨电子显微像的计算机模拟

1.4.1 程序的构成和输入的参数

1.4.2 在考虑晶格缺陷和吸收时的计算模拟

1.4.3 程序的检查

参考文献

第2章 高分辨电子显微方法的实验

2.1 高分辨电子显微像的种类

2.1.1 晶格条纹

2.1.2 一维结构像

2.1.3 二维晶格像

2.1.4 二维结构像

2.1.5 特殊的像

2.2 高分辨电子显微镜观察

2.2.1 像观察前的注意事项

2.2.2 像观察前的注意事项

2.2.3 拍摄像的选择

2.2.4 像解释时的注意事项

2.2.5 高分辨电子显微镜观察的练习

参考文献

第3章 高分辨电子显微方法的应用

3.1 晶格缺陷、表面和界面的高分

3.1.1 位错

3.1.2 晶界和相界面

3.1.3 表面

3.1.4 其他结构缺陷

3.2 各种物质的高分辨电子显微像

3.2.1 陶瓷

3.2.2 超导氧化物

3.2.3 有序合金

3.2.4 准晶

参考文献

第4章 高分辨电子显微方法的周边技术

4.1 图像处理

4.1.1 高分辨电子显微像的输入和输出

4.1.2 高分辨电子显微像图像处理的实践

4.2 定量解析

4.2.1 新记录系统的原理

4.2.2 新的图像记录系统的特性

4.2.3 用残差指数解析高分辨电子显微像

4.3 电子衍射方法

4.3.1 电子衍射方法的基础

4.3.2 电子衍射方法的实际操作

4.3.3 各种结构及其电子衍射花样的特征

4.4 弱束方法

4.4.1 弱束方法的原理和特点

4.4.2 弱束像的观察程序

4.5 电子显微镜性能的评价

4.5.1 电子显微镜基本参数的评价

4.5.2 电子显微镜分辨率的评价

4.6 试样制备方法

4.6.1 粉碎方法

4.6.2 电解减薄方法

4.6.3 化学减薄方法

4.6.4 超薄切片方法

4.6.5 离子减薄片方法

4.6.6 聚焦离子束方法

4.6.7 真空蒸涂方法

参考文献

附录

附录1 物理常数、换算系数和电子波长等

附录2 晶体几何学关系

……

参考文献

索引2100433B

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