设计了一种转塔式测试分选机,用于极小型半导体器件的测试、打标、分选和编带。此设备处理速度快,检测分选效率高,对半导体器件损伤小,可以大规模用于极小型半导体器件的测试分选。

第一章 集成电路的测试 1.集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测， 通过测量对于集成电路的输出回应和预期 输出比较， 以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程， 是验证设计、 监控生产、 保证 质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理 输入 X 输出回应 Y 被测电路 DUT（Device Under Test）可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入 x 和网络功能集 F（x），确定原始输出回应 y，并分析 y是否表达了电路网络的实际输出。因 此，测试的基本任务是生成测试输入， 而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器 件，并分析其输出的正确性。 测试过程中， 测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测 器件的原始输入管脚， 第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应， 最后经过分析处 理得到测试结果。 3.集成电路故障与测