设计了一种转塔式测试分选机,用于极小型半导体器件的测试、打标、分选和编带。此设备处理速度快,检测分选效率高,对半导体器件损伤小,可以大规模用于极小型半导体器件的测试分选。

电梯主要功能测试记录表 序 号 项目 规范要求 结果 备注 1 基站启用、关闭开关 专用钥匙，运行、停止转换灵活 2 工作状态选择开关 操纵盘上司机、自动、检修钥匙开关， 可靠 3 轿内照明、通风开关 功能正确、灵活可靠、标志清晰 4 轿内应急照明 自动充电，电源故障时自动接通， 大于 1W1h 5 本层厅外开门 按电梯停在某层的呼梯按钮，应开门 6 自动定向 按先入为主的原则，自动确定运行方向 7 轿内指令记忆 有多个选层指令时，电梯应顺序逐一停 靠 8 呼梯记忆、顺向截停 记忆厅外全部呼梯信号，按顺序停靠应 答 9 自动换向 全部顺向指令完成后，自动应答反向指 令 10 轿内选层信号优先 完成最后指令在关闭前，轿内优先登记 定向 11 自动关门待客 完成全部指令后， 电梯自动关门，时间 4—10s 12 提早关门 按关门按钮，门不经延时立即关门 13 开门按钮开门 在电梯未起动前，