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书名:基于原子力显微镜的纳米机械加工与检测技术 | |
作者: 董申,孙涛,闫永达 | 责编:田 秋 |
I S B N:978-7-5603-3861-3 | 定价:68.00元 |
出版日期:2012.12 | 开本:16 |
所属丛书: | 页数:300 |
图书分类:F.航天科学工程与自动控制类 | 中图分类:航空、航天 |
基于原子力显微镜(AFM)的纳米机械加工与检测技术是近年来飞速发展的一个研究领域。本书主要把作者课题组近年来的相关研究工作做了一个阶段性的归纳和总结,内容包括:纳米机械加工表面的微观形貌检测方法;纳米机械加工表层形成机理;基于AFM的纳米机械加工技术;基于AFM的工程应用。
本书对从事纳米加工技术、纳米检测技术以及超精密加工工艺等的研究人员有重要的参考价值,同时也可作为机械类研究生的参考书。
第1篇 纳米机械加工表面的微观形貌检测方法
第1章 纳米机械加工表面微观形貌检测方法
1.1 表面微观形貌的评价方法与评价体系
1.2 超光滑表面微观形貌检测仪器分析与选择
1.2.1 触针式表面测量技术
1.2.2 光学式表面测量技术
1.2.3 扫描显微镜表面测量技术
1.3 表面微观形貌的检测与结果分析
1.3.1 典型表面微观形貌测量仪器
1.3.2 表面形貌的检测实验
1.3.3 表面形貌检测结果分析
1.4 纳米机械加工表面形貌测量技术发展
参考文献
第2章 三维表面微观形貌的表征与检测
2.1 三维表面微观形貌的检测技术与国际标准表征
2.1.1 三维表面测量和分析中涉及的几个问题
2.1.2 三维表面形貌的表征参数
2.2 三维表面微观形貌的谱矩表征
2.3 轮廓/表面功率谱密度理论及应用
2.3.1 功率谱密度定义及其计算方法
2.3.2 应用功率谱密度理论对比不同测量仪器结果
2.3.3 应用功率谱密度理论研究超精密加工工艺
2.4 三维表面微观形貌的分形表征及应用
2.4.1 三维分形维数的计算
2.4.2 几种工程表面的分形维数测量
2.5 原子力显微镜的采样条件参数优化
2.5.1 方法描述
2.5.2 应用频谱分析确定采样条件的实验
2.5.3 应用频谱分析确定合理采样条件的步骤
参考文献
第2篇 纳米机械加工表层形成机理
第3章 纳米机械加工的分子动力学建模与仿真
3.1 晶体铜纳米加工的分子动力学模型
3.2 分子动力学基本原理
3.2.1 经典牛顿运动方程的求解方法
3.2.2 描述原子相互作用的势能函数
3.2.3 模拟实验条件的系综
3.2.4 其他设置
3.3 晶体铜建模技术
3.3.1 晶体结构
3.3.2 单晶铜建模
3.3.3 双晶铜建模
3.3.4 纳米晶铜建模
3.4 晶体缺陷
3.4.1 晶体缺陷分类
3.4.2 位错缺陷
3.5 晶体缺陷分析技术
3.5.1 中心对称参数(CSP)
3.5.2 共近邻分析(CNA)
3.5.3 Ackland键角分析(BAD)
参考文献
第4章 晶体铜纳米机械加A工机理
4.1 纳米机械加工单晶铜
4.1.1 单晶铜纳米机械加工机理
4.1.2 其他参数对纳米机械加工单晶铜的影响
4.2 纳米机械加工双晶铜
4.2.1 包含任意晶界的双晶铜纳米机械加工机理
4.2.2 包含孪晶界的双晶铜纳米机械加工机理
4.3 纳米机械加工纳米晶体铜
4.3.1 全三维纳米晶体铜纳米机械加工机理
4.3.2 准三维柱状纳米晶体铜纳米机械加工机理
参考文献
第5章 纳米机械加工亚表面损伤层的定量预测
5.1 晶体铜纳米机械加工亚表面损伤层形成机理
5.2 基于单个原子势能的亚表面变形层定量预测
5.2.1 原子势能的变化模型
5.2.2 基于原子势能的变化模型的亚表面损伤层定量预测
第3篇 基于AFM的纳米机械加工技术
第4篇 基于AFM的工程应用
术语索引
原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用...
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一般实验室用的几百到几万都有。一分钱一分货。
原子力显微镜在宝钢材料显微结构分析领域的应用
作为扫描力探针显微镜(SPM——SCAN PROBE MICROSCOPE)的重要成员,原子力显微镜(AFM——ATOMIC FORCE MICROSCOPE)不仅是重要的纳米材料表征的手段,而且在钢铁行业中也有着令人兴奋的应用前景,文章通过一些典型试验说明这台设备在钢铁材料显微研究中的重要作用。
课程资源
《机械加工检测技术》配套建设有“机械加工检测技术”数字课程,数字课程内容与纸质教材一体化设计,包括电子教案和演示文稿 。
数字课程名称 |
出版社 |
出版时间 |
内容提供者 |
---|---|---|---|
“机械加工检测技术”数字课程 |
高等教育出版社、高等教育电子音像出版社 |
2015年9月 |
徐宇明 |
为了与纳米器件[36]或者元件实现电接触,必需提供相应的夹具、显微镜和探针系统[37]。当今的纳米研究者正在使用诸如原子力显微镜、扫描电子显微镜和聚焦离子束工具等手段来实现器件的可视化、对其执行机械测量并进行I-V特性测量[38]。要实现微米和纳米尺度上的研发、甚至生产应用,就需要纳米操纵器等工具。这些系统可以拥有多达4个的定位器,用于通过实现4轴运动来完成纳米尺度样品的抓握、移动、测试和最优定位。这就允许我们在纳米级试验时同时实现操纵、成像和电测量。不幸的是,探针尖和探针系统也可以成为测量误差源[39],它们可能大于电测量工具本身的误差。测试信号的完整性取决于能否实现高质量的探针接触,而这直接与触点的电阻相关。随着信号电压的下降、接触压力的减少以及纳米技术[40]所研究的器件结构的日新月异,探针的接触电阻的影响变得越来越重要。
在使用过程中,探针会受到沾污,造成测量的误差。探针针尖的磨损和相应在针尖处出现的沾污会造成接触电阻的增加。要增强探针的长期性能,最佳的途径是在测试协议中融入定期清洗的流程。虽然定期清洗可以在沾污造成较高的接触电阻从而带来测试产率的损失之前即可以将其消除,但对这一好处的评估也必须计及其成本。一个与清洗有关的成本要素是由于探针系统停止运行所导致的测试吞吐率的降低。另一方面,过少的清洗工作又会影响测试产率。
如下的任何一种现象都可能指示沾污问题的存在:
·探针的接触电阻变高。
·产率的下降可以归结为接触电阻过高。
·重新探压并不能改善测试失效率。
·可视的(显微的)检验表明探针针尖上存在颗粒或者覆层。
往往不正确的测量结果是第一个揭示故障的线索,而且重新的探查并不能改变失效率。在显微镜下观察探针针尖可以确认诊断结果。可以从探针的供应商那里获得关于清洗方面的建议。
《机械加工检测技术》以培养学生综合职业能力为出发点,涉及的知识、工艺和技术均考虑了学生的认知能力、实践能力及企业生产一线的岗位技术需要,编写中坚持技能为主、理论适度够用,同时注重学习者的岗位职业素养的培养。该教材以任务驱动模式编写,具有以下特点:
1、采用国家标准和行业标准;
2、以应用为目的,以必需、够用为度,以讲清概念、强化实践动手能力为重点,贯彻以任务为引领、以教学项目为载体原则;
3、测量使质的零件选自生产实际中的一些常见零件,因此每个教学项目均具有可操作性。为学生提供了体验完整测量过程的机会;
4、加强技能技巧的讲解,说明术语、定义、公式和测量技能、技巧等 。