射线检验主要使用的器材有胶片、增感屏、像质计、观片灯、黑度计、标记符号等。

射线胶片与普通胶片除了感光乳剂成分有所不同外，其他的主要不同是射线胶片一般是双面涂布感光乳剂层，普通胶片是单面涂布感光乳剂层;射线胶片的感光乳剂层厚度远大于普通胶片的感光乳剂层厚度。这主要是为了能更多地吸收射线的能量。但感光最慢、颗粒最细的射线胶片也是单面涂布乳剂层。

胶片主要是由片基(图中4)、结合层(图中3)、感光乳剂层(图中2)、和保护膜(图中1)组成，如图所示。

胶片的感光特性是指胶片曝光后(经暗室处理)得到的底片黑度(光学密度)与曝光量的关系。主要的感光特性包括感光度(S)、梯度(G)、灰雾度(D0)及宽容度等，感光特性曲线集中反应了这些感光特性。

在可见光或射线照射下，胶片感光乳剂层中可以形成眼睛看不见的潜在的影像，称为"潜影"，经过显影处理，潜影可转化为可见的影像。

在照相乳剂的制备过程中，在感光乳剂层中将形成"感光中心"-卤化银微粒表面的一些部分，由于存在中性银原子和硫化银而提高了对光的反应能力，它是潜影形成的基础。

在工业射线照相中使用的胶片，从大的方面分为两种类型:增感型胶片;非增感型胶片(直接型胶片)。增感型胶片是指适宜与荧光增感屏配合使用的胶片，非增感型胶片适于与金属增感屏一起使用或不用增感屏直接使用。

根据射线照相技术发展的情况，在射线照相中一般不使用增感型胶片。

当射线入射到胶片时，由于射线的穿透能力很强，大部分穿过胶片，胶片仅吸收入射射线很少的能量。为了更多地吸收射线的能量，缩短曝光时间，在射线照相检验中，常使用前、后增感屏贴附在胶片两侧，与胶片一起进行射线照相，利用增感屏吸收一部分射线能量，达到缩短曝光时间的目的。

描述增感屏增感性能的主要指标是增感系数。

增感屏主要有三种类型:金属增感屏、荧光增感屏、复合增感屏(金属荧光增感屏)。

增感屏具有增感作用，但必须注意正确使用。使用时增感屏常分为前屏和后屏。前屏应置于胶片朝向射线源一侧，后屏置于另一侧，胶片夹在两屏之间。前屏应采用适于射线能量的厚度，后屏厚度经常较大，以便同时具有吸收背景产生的散射线的作用。为了操作的方便，实际上经常选用同样厚度的前屏和后屏，而另外在暗袋外面附加一定厚度的铅板屏蔽环境产生的散射线。

像质计(像质指示器，透度计)是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件，根据在底片上显示的像质计的影像，可以判断底片影像的质量，并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。最广泛使用的像质计主要是三种:丝型像质计、阶梯孔型像质计、平板孔型像质计。像质计应用与被检验工件相同或对射线吸收性能相似的材料制做。

关于丝的直径，各个国家一般都采用公比为 (近似为1.25)的等比数列决定的一个优选数列(ISO/R10化整值系列)，并对丝径给以编号。

我国以丝型像质计为主。

使用时，丝型像质计放置的数量、位置和具体的安放方法等应符合有关标准的规定。一般的规定主要是，原则上每张底片上都应有像质计的影像，像质计应放置在工件射线源侧的表面上，且应放置在透照区中灵敏度度差的部位。当像质计放置在工件胶片侧表面时，应附加标记(一般是字母"F")。多数标准对丝型像质计的识别性都是有规定的。

为完成射线照相检验，除需要上面叙述的设备器材外，还需要其他的一些设备和器材，下面列出了另外一些常用的小型设备和器材，但这并不是全部的器材，如暗盒、药品等均未在此列出。

参考书目

ASM Metals Handbook, 8th ed.,Vol.11,Non-Destructive Inspection and Quality Control,ASM,1976. J.F.Hinsley,Non-Destructive Testing, MacDonald & Evans Ltd.,London, 1959. Richard A. Quinn, Claire C.Sigl,Radiography in Modern Industry,4th ed., Eastman Kodak Co.,Rochester, NeW York,1980.

射线检验因记录或显示介质的不同，有多种方法。常用的方法:

①胶片照相法。

用X射线胶片作为记录介质,这种方法直观、可靠，而且灵敏度较高。用X射线源时，分辨力较高(用γ射线 源时，分辨力要低些),并能提供永久性记录;其缺点是成本较高。

②荧光屏观察法。

这种方法是:射线束透过物体直接照射在荧光屏上，转换成可见的图象。这种方法的优点是快速、简便、检验费用低。但由于亮度较低，难于观察细节，分辨力较差。因此多采用图象增强器，使亮度提高几千倍。如果配合工业闭路电视系统,就成为工业X射线电视。它不仅具有荧光屏观察法的优点，而且易于实现检验的自动化，主要适用于形状简单的零部件检查，不过灵敏度仍不如胶片照相法。

③还有一些应用较少的方法，如干板射线照相法、辐射测量法和高速射线照相法等。在医疗诊断上已用电子计算机控制的层析照相法(通称CT)，可望应用于工业。

无论采用何种射线检验都要加强人身安全防护。

工业射线照相探伤中使用的低能X射线机，简单地说是由四部分组成:射线发生器(X射线管)、高压发生器、冷却系统、控制系统。当各部分独立时，高压发生器与射线发生器之间应采用高压电缆连接。

按照X射线机的结构，X射线机通常分为三类，便携式X射线机、移动式X射线机、固定式X射线机。

便携式X射线机采用组合式射线发生器，其X射线管、高压发生器、冷却系统共同安装在一个机壳中，也简单地称为射线发生器，在射线发生器中充满绝缘介质。整机由两个单元构成，即控制器和射线发生器，它们之间由低压电缆连接。在射线发生器中所充的绝缘介质，较早时为高抗电强度的变压器油，其抗电强度应不小于30~50kV/2.5mm。多数充填的绝缘介质是六氟化硫(SF6)，以减轻射线发生器的重量。

常见的便携式X射线机如图所示。

X射线机的核心器件是X射线管，普通X射线管主要由阳极、阴极和管壳构成。

对低压X射线机，输入X射线管的能量只有很少部分转换为X射线，大部分转换成热，所以对于X射线机来说要保证良好的散热。

γ射线机用放射性同位素作为γ射线源辐射γ射线，它与X射线机的一个重要不同是γ射线源始终都在不断地辐射γ射线，而X射线机仅仅在开机并加上高压后才产生X射线，这就使γ射线机的结构具有了不同于X射线机的特点。γ射线是由放射性元素激发，能量不变。

将γ射线探伤机分为三种类型:手提式、移动式、固定式。手提式γ射线机轻便，体积小、重量小，便于携带，使用方便。但从辐射防护的角度，其不能装备能量高的γ射线源。

常见的手提式γ射线机如图所示。

γ射线机主要由五部分构成:源组件(密封γ射线源)、源容器(主机体)、输源(导)管、驱动机构和附件。

γ射线机与X射线机比较具有设备简单、便于操作、不用水电等特点，但γ射线机操作错误所引起的后果将是十分严重，因此，必须注意γ射线机的操作和使用。

射线检验是应用较早的材料检测方法之一。1896年，即德国物理 学家伦琴 (W.K.R?ntgen)发现Χ射线的第二年,英国的霍尔-爱德华兹(Hall-EdWards)和拉德克利夫(Radcliffe)便把 X射线用于医疗诊断;不久他又将X射线用于检查金属中缺陷。γ射线检验始于1925年，当时，皮隆 (H.Pilon)和拉博德(M.A.Laborde)用镭对蒸汽机进行射线检查。1948年以后，由于人工放射性同位素的出现，γ射线检验的应用日趋广泛。

射线检验在工业上有着非常广泛的应用，它既用于金属检查，也用于非金属检查。对金属内部可能产生的缺陷，如气孔、夹杂、疏松、裂纹、未焊透和未熔合等，都可以用射线检查。应用的行业有承压设备、航空航天、船舶、兵器、水工成套设备和桥梁钢结构。

当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，这样，采用一定的检测器(例如，射线照相中采用胶片)检测透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等，从而完成对被检测对象的检验。

射线检验常用的方法有X射线检验、γ射线检验、高能射线检验和中子射线检验。对于常用的工业射线检验来说，一般使用的是X射线检验和γ射线检验。

无损检验通常包括五大类常规方法:超声波检验、射线检验、磁粉检验、渗透检验、涡流检验。

超声波检验:超声波在被检材料中传播时，根据材料的缺陷所显示的声学性质对超声波传播的影响来探测其缺陷的方法。通常用超声波检验内部缺陷和表面缺陷。

X射线检验:利用X射线等射线对金属内部缺陷进行的无损检验方法。

磁粉检验:利用漏磁和合适的检验介质发现试件表面和近表面的不连续性的无损检验方法。

渗透检验:通过施加渗透剂，用洗净剂除去多余的部分，然后再施加显像剂以得到零件上开口于表面的缺陷显示。

涡流检验:利用在试件中的涡流，分析试件中质量状况的无损检测方法。

超声波检验和射线检验是应用最广泛的检测方法，只要应用于内部缺陷检验，对于表面检验，主要应用磁粉检验，只要是铁磁性材料就要优选磁粉检验。

工业上超声波检验以金属为主，也可以用于其它检验对象;射线检验的对象也很广泛，以金属为主;磁粉检验只能适用于铁磁性材料;渗透检验既可以用于金属，也可以用于非金属材料;涡流检验只能应用于导电材料。