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土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法适用范围

土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法适用范围

本标准适用于土壤和沉积物中25种无机元素和7种氧化物的测定,包括砷(As)、钡(Ba)、溴(Br)、铈(Ce)、氯(Cl)、钴(Co)、铬(Cr)、铜(Cu)、镓(Ga)、铪(Hf)、镧(La)、锰(Mn)、镍(Ni)、磷(P)、铅(Pb)、铷(Rb)、硫(S)、钪(Sc)、锶(Sr)、钍(Th)、钛(Ti)、钒(V)、钇(Y)、锌(Zn)、锆(Zr)、二氧化硅(SiO2)、三氧化二铝(Al2O3)、三氧化二铁(Fe2O3)、氧化钾(K2O)、氧化钠(Na2O)、氧化钙(CaO)、氧化镁(MgO)。

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土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

沉积

  • 印花、砂岩凸釉、干粒滚筒印花,VC,800*800,优等品
  • 路易摩登
  • 13%
  • 福州东辉建材有限公司
  • 2022-12-07
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沉积

  • 印花、砂岩凸釉、干粒滚筒印花,VC,600*600,优等品
  • 路易摩登
  • 13%
  • 福州东辉建材有限公司
  • 2022-12-07
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沉积灰岗石

  • 厚度(mm):15,
  • m2
  • 万峰
  • 13%
  • 万峰石材科技股份有限公司
  • 2022-12-07
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沉积灰岗石

  • 厚度(mm):16.5,
  • m2
  • 万峰
  • 13%
  • 万峰石材科技股份有限公司
  • 2022-12-07
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沉积

  • 印花、砂岩凸釉、干粒滚筒印花,VC,600*900,优等品
  • 路易摩登
  • 13%
  • 福州东辉建材有限公司
  • 2022-12-07
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2011年3季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2010年4季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2010年3季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 广州市2009年4季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2009年2季度信息价
  • 建筑工程
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水系沉积物成分标准物质

  • 品牌:坛墨质检货号:GBW07312(GSD-12)
  • 6瓶
  • 3
  • 国家有色金属及电子材料中心、北京环标科创、坛墨质检等
  • 中档
  • 含税费 | 不含运费
  • 2021-10-09
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原子吸收分光光谱

  • 1. 用 途:采用原子吸收光谱法, 用于环境土壤、农产品、药品等中多种微量金属元素定量分析.2.仪器主机 :火焰/石墨炉全自动一体化设计,火焰、石墨炉原子化器无需机械切换,无需调整石墨炉自动进样器
  • 1台
  • 1
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2020-09-22
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X射线安全检查设备

  • 1.名称X射线安全检查设备2.安检机由X射线源、X射线探测器、控制部件、传送带、计算机等组成,采用单源多能量X射线检查技术,能够准确识别有机无机物混合;通道尺寸:≥500mm×300mm(宽
  • 1台
  • 3
  • 高档
  • 含税费 | 含运费
  • 2022-11-03
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DR2800便携式分光光度计波长范围340-900nm

  • DR2800 便携式分光光度计 波长范围340-900nm
  • 1台
  • 1
  • 高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-07-27
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X射线安检机

  • 集中存储、远程协查等管理功能9.采用模块化设计,提供X射线源、探测器阵列、专用键盘等关键部件测试诊断功能,使设备故障诊断及维修更加准确快捷
  • 1套
  • 1
  • 中等品牌
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2018-03-28
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土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法起草单位

江苏省环境监测中心。

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土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法适用范围常见问题

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土壤和沉积物无机元素的测定波长色散X射线荧光光谱法适用范围文献

能量色散-X射线荧光光谱法测定荧光灯中汞含量 能量色散-X射线荧光光谱法测定荧光灯中汞含量

能量色散-X射线荧光光谱法测定荧光灯中汞含量

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大小:470KB

页数: 3页

汞是一种剧毒化学物质,对环境的污染非常强,同时也是可引起人体器官和大脑损伤的神经毒素,所谓的"水俣病"即是汞污染造成的病症,人体受到过量汞的污染甚至还会致死。随着国家节能减排、绿色照明以及"逐步淘汰白炽灯"相关政策的实施推广,荧光灯行业保持着高速增长。随着节能灯推广数量的不断增加,节能灯报废后的汞污染越来越引起人们的关注。政府和消费

X射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中多元素 X射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中多元素

X射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中多元素

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大小:470KB

页数: 3页

以四硼酸锂为熔剂,采用1:11为熔剂稀释比,于1050℃熔融硅质耐火材料样品,制成玻璃样片,采用波长色散型X射线荧光光谱仪同时测定样品中SiO2、A1203等多元素,用硅石标准样品经同方法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线。制取7个平行样片测定各组分含量,数据吻合较好,该方法能够满足日常分析需要。

X射线荧光光谱法展望

X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素(Z≤8)的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高(采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外),根据各个工业部门生产自动化的要求(例如选矿流程中的自动控制分析),X射线荧光分析法正在不断完善中。某些新发展起来的激发、色散和探测新技术还未能得到普遍的推广应用,仪器的自动化和计算机化水平尚待进一步提高。尤其突出的是,在快速分析方面,至今实验室的制样自动化水平仍然是很低的,还不能适应全自动X射线荧光分析仪连续运转的要求。

在仪器技术的改进方面,对于常规的X射线荧光光谱法来说,为提高分析灵敏度,这种改进主要仍决定于激发、色散和探测等三个基本环节。在激发源方面,常规X射线管对轻元素的激发,除铑靶外,还发现钪靶的效率较高。新型的强大的同步辐射源在分析上的应用研究也已开始,在特征 X射线外延吸收谱精细结构研究中更引起人们的高度重视。在色散元件方面,随着一些新型晶体,尤其是轻、重元素交替淀积的碳化物多层膜质晶体的发展,在提高衍射效率方面对轻元素分析有可能获得较大的效益。对于超长波X射线色散用的各种分析晶体和光栅,在提高分辨率和扩大应用范围方面,不断取得新的进步。在探测器方面,作为能谱仪的心脏,可以在室温下工作,具有优良能量分辨本领的碘化汞晶体探测器也正在开发之中。可以说,以上仪器三个基本环节的突破,以及仪器结构的不断改进(例如能量与波长色散谱仪的结合等),对于提高仪器的使用水平,必将有很大的促进。此外,基本参数法的推广应用,尚有赖于有关方面不断地提高质量衰减系数、吸收陡变、荧光产额和原级 X射线光谱的强度分布等基本参数的准确度。

在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在,基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发,向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进,对于扩大分析含量范围,包括进一步开展痕量元素测定等工作,在各应用部门中仍然有着发展的前景。

在化学态研究方面,随着固体电子能谱和量子化学理论的发展和电子计算机在X射线能谱解释中的应用,这种研究正在继续朝着定量计算的方向前进,不仅在晶体物质方面,而且在非晶型物质方面,包括高分子化合物、配位化合物及其他溶液、非单原子气体等,其应用将与日俱增。

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X射线荧光光谱法分析

利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。

当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差,因此,X射线荧光的波长对不同元素是特征的。

根据色散方式不同,X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2-3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达10-5-10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7-10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;强度测量的再现性好;便于进行无损分析;分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。

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能量色散X射线荧光光谱仪概述

能量色散x射线荧光光谱仪energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脉冲高度分析器进行能量色散的x射线荧光光谱仪公与波长色散x射线荧光光谱仪相比,它的结构简单。可使用小功率x射线管激发和简单的分光系统。采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领,由微处理机处理,可同时恻定试样中}o一sn种元素,分 析速度快。

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