选择特殊符号

选择搜索类型

热门搜索

首页 > 百科 > 建设工程百科

X射线光电子能谱分析仪

X射线光电子能谱分析仪是一种用于材料科学领域的分析仪器,于2015年3月31日启用。

X射线光电子能谱分析仪基本信息

X射线光电子能谱分析仪主要功能

主要用于对样品表面进行元素种类测定、同种元素不同化学状态定性及定量分析等方面的表征。XPS的工作原理是用光子能量在1000~1500ev之间X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来成为光电子,测量光电子的能量,以光电子的动能/束缚能binding energy,(Eb=hv光能量-Ek动能-w功函数)为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得试样表面化学状态的有关信息。 2100433B

查看详情

X射线光电子能谱分析仪造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

SS分析仪

  • 型号:TSS10AC+TSS-S0C10
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-08
查看价格

线余氯PH温度分析仪

  • 型号:FCL20AC+FCL-S11C10
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-08
查看价格

线余氯PH温度分析仪

  • XRP-CL8132H2M
  • 南京新锐鹏
  • 13%
  • 株洲中车机电科技有限公司
  • 2022-12-08
查看价格

分析仪

  • 品种:分析仪;产品描述:FCA3027;说明:通道数量2-300MHz1-27GHz时间分辨率100ps频率分辨率12位/秒;频率(MHZ)
  • 泰克
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-08
查看价格

分析仪

  • 品种:分析仪;产品描述:FCA3020;说明:通道数量2-300MHz1-20GHz时间分辨率100ps频率分辨率12位/秒;频率(MHZ)
  • 泰克
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-08
查看价格

谱分析仪

  • HP8563E
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
查看价格

逻辑分析仪

  • K2016通道
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
查看价格

谐波分析仪

  • F41
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
查看价格

7号信令分析仪

  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
查看价格

通信性能分析仪

  • 2Mb/s-2.5Gb/s
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
查看价格

HQD分析仪

  • HQD分析仪
  • 1台
  • 2
  • 中档
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2022-04-24
查看价格

定位分析仪

  • 定位分析仪含(老师/学生/板书分析仪)
  • 1台
  • 2
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-07-14
查看价格

线PH分析仪

  • 线PH分析仪
  • 16台
  • 1
  • 广州高山/天健创新/哈希
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2021-05-14
查看价格

线COD分析仪

  • 线COD分析仪
  • 1套
  • 1
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2021-04-21
查看价格

光电子整流器

  • PLC插拨管 1×13W
  • 400套
  • 1
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2009-12-30
查看价格

X射线光电子能谱分析仪技术指标

Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。

查看详情

X射线光电子能谱分析仪常见问题

查看详情

X射线光电子能谱分析仪文献

镀锌三价铬钝化膜的X射线光电子能谱研究 镀锌三价铬钝化膜的X射线光电子能谱研究

镀锌三价铬钝化膜的X射线光电子能谱研究

格式:pdf

大小:900KB

页数: 3页

采用中性盐雾试验比较了酸性氯化钾镀锌层经3种不同钝化剂钝化处理后所得钝化膜的耐蚀性,采用X射线光电子能谱研究了不同钝化膜的厚度及组成。结果表明,SpectraMATETM 25彩色钝化所得钝化膜的耐蚀性最好,可以经受336 h以上的中性盐雾试验,TRI-V121钝化膜的耐蚀性次之,TRI-V120钝化膜最差。TRI-V120和TRI-V121蓝白钝化所得钝化膜的主要组成为Cr2O3,厚度均为200 nm左右,但后者的Cr含量较高,因此具有较高的耐蚀性;经SpectraMATETM 25彩色钝化所得钝化膜的组成为Cr(OH)3和Cr2O3,厚度约为800 nm,膜层厚是其具有高耐蚀性的主要原因。

竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析 竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析

竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析

格式:pdf

大小:900KB

页数: 6页

应用傅里叶转换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS),研究了3种提纯方法得到的竹木质素及其化学反应产物的化学结构特性.确定竹木质素C1s的电子结合能分别为283.52(C—H或C—C),284.58~285.72(C—OR或C—OH),286.10~286.44(C=O或HO—C—OR),287.65~287.72(O—C=O)eV.O1s的电子结合能分别为530.31(羟基氧原子),531.45~531.72(醛或酮的羰基氧原子),532.73~533.74(酯键或羧酸中的羰基氧原子)eV.竹木质素中的结构单元之间主要是通过醚键和碳碳单键连接,慈竹磨木木质素结构单元中醚键、碳碳单键、酯键、羰基和烯双键的比例为100∶63∶32∶40∶32(49.3∶31.0∶16.0∶19.9∶16.0).

x射线光电子能谱发展简史

1887年,海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应,1905年,爱因斯坦解释了该现象(并为此获得了1921年的诺贝尔物理学奖)。两年后的1907年,P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系,他的实验事实上记录了人类第一条X射线光电子能谱。其他研究者如亨利·莫塞莱、罗林逊和罗宾逊等人则分别独立进行了多项实验,试图研究这些宽带所包含的细节内容。XPS的研究由于战争而中止,第二次世界大战后瑞典物理学家凯·西格巴恩和他在乌普萨拉的研究小组在研发XPS设备中获得了多项重大进展,并于1954年获得了氯化钠的首条高能高分辨X射线光电子能谱,显示了XPS技术的强大潜力。1967年之后的几年间,西格巴恩就XPS技术发表了一系列学术成果,使XPS的应用被世人所公认。在与西格巴恩的合作下,美国惠普公司于1969年制造了世界上首台商业单色X射线光电子能谱仪。1981年西格巴恩获得诺贝尔物理学奖,以表彰他将XPS发展为一个重要分析技术所作出的杰出贡献。

查看详情

X射线光电子能谱分析定义及原理

X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析,包括价态。 X射线光电子能谱因对化学分析最有用,因此被称为化学分析用电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA) 。1887年,Heinrich Rudolf Hertz发现了光电效应。二十年后的1907年,P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球 (电子能量分析仪)和照相平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系。

查看详情

x射线光电子能谱应用

x射线光电子能谱概述

对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析。 固体样品表面的组成、化学状态分析,广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定。此外在对氧化、腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆等微观机理研究;污染化学、尘埃粒子研究等的环保测定;分子生物化学以及三维剖析如界面及过渡层的研究等方面有所应用。

XPS与某些分析方法的比较 :

方法名称

信息来源

分析方式

样品状态

样品用量(g)

分辨率

灵敏度

真空(Pa)

XPS

表面<8nm

非破坏

固、气、液

10-6~10-8

较低

10-18

1.33×10-4~1.33×10-9

吸收光谱

本体

非破坏

固、气、液

10-2~10-3

10-9

发射光谱

本体

破坏

10-12

质谱

本体

破坏

固、气、液

10-3~10-4

10-13

1.33×10-2~1.33×10-5

NMR

本体

非破坏

液(固 )(气)

5×10-3

穆斯堡尔谱

表面

非破坏

固(Fe,Sn,稀土)

10-3

电子探针

表面

非破坏

10-16

1.33×10-1~1.33×10-3

离子探针

表面

破坏

10-11

X射线荧光

表面

非破坏

10-17

x射线光电子能谱常规应用

1.样品表面1-12nm的元素和元素质量

2.检测存在于样品表面的杂质

3.含过量表面杂质的自由材料的实验式

4.样品中一种或多种元素的化学状态

5.一个或多个电子态的键能

6.不同材料表面12 nm范围内一层或多层的厚度

7.电子态密度测量

x射线光电子能谱应用限制

量化精确度:

分析时段

探测限制

分析区域限制

样品大小限制

查看详情

相关推荐

立即注册
免费服务热线: 400-888-9639