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低压电器试验温升试验

2018/06/1999 作者:佚名
导读:用以验证电器通电发热直至稳定后,各部分零部件是否在容许温升范围内。不同电器的触头、导线、铜排接线端、线圈的温升,在标准或技术条件中都有具体的规定。电气触头、导电铜排接线端处的温升如果过高,会导致接触面的氧化,被氧化了的接触面会使接触电阻增加,从而又促使温升进一步地增加。线圈的温升过高会使外包绝缘材料迅速老化,缩短使用寿命或烧坏线圈。

用以验证电器通电发热直至稳定后,各部分零部件是否在容许温升范围内。不同电器的触头、导线、铜排接线端、线圈的温升,在标准或技术条件中都有具体的规定。电气触头、导电铜排接线端处的温升如果过高,会导致接触面的氧化,被氧化了的接触面会使接触电阻增加,从而又促使温升进一步地增加。线圈的温升过高会使外包绝缘材料迅速老化,缩短使用寿命或烧坏线圈。

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