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电容灾难原因

2018/06/1981 作者:佚名
导读: 制造瑕疵电容根本的原因是产业间谍的情报错误。部份台湾电解液厂窃取未完成的电解液成分,而且缺乏制造稳定电容所需成分。(非腐蚀性成分由于工业冲击并未公开),当瑕疵电容充电的时候,水性的电解液将会变的不稳定,进而产生氢气。由于这些电容是用铝壳将它封存,这些压力使得电容顶端开始变形,或封闭接头的橡胶被挤下来。直到当压力超过金属壳的伸展性以后,将会从橡胶底爆出来,或是从电容顶端爆出来。当一个电解电容器

制造瑕疵电容根本的原因是产业间谍的情报错误。部份台湾电解液厂窃取未完成的电解液成分,而且缺乏制造稳定电容所需成分。(非腐蚀性成分由于工业冲击并未公开),当瑕疵电容充电的时候,水性的电解液将会变的不稳定,进而产生氢气。由于这些电容是用铝壳将它封存,这些压力使得电容顶端开始变形,或封闭接头的橡胶被挤下来。直到当压力超过金属壳的伸展性以后,将会从橡胶底爆出来,或是从电容顶端爆出来。当一个电解电容器爆裂的时候,会出现爆炸声与一个嘶嘶声杂音,甚至是小爆炸。这个现象通常会使内部变得杂乱,而为了避免酸性的电解液进一步的侵蚀主板,一定要清除干净。

电容检验失效的电容器一般都会造成像上述的系统不稳定的状况,有时候,失效的电容器将在主板上导致电压调节器失效。主要有二个理论可以解释为何发生此状况。

第一种较易懂的情况是这类失效的电容会有非常高的漏电流,过高负载的电压调节器会造成过热而失效。 第二种情况是当电容值减少且ESR值增加,电压调整器内的降压调节器为了补偿负载而增加交换频率。因为 MOSFET 在交换过渡期间会产生热量,频率增加而导致过热而失效。

从电脑电源供应器取出的电容,发现测试数值是异常的低。一颗失效的电容标示著 2200 µF,但是可能只能储存 75 µF 的电量。长时间的使用,50%的衰退是可以被预期的,但是不可能衰退到只剩 5%。降压交换调节器却会被如此低的电量使得稳定性大打折扣,而且调节器的电压波动可能会大于连结至IC的建议最大波动值。

最普遍的情况是,当电压调节器坏掉时将会从电源供应直接传导至装置,导致从电源供应器输出的12V或5V电源直接输入至CPU、北桥、内存及其他组件,而这些组件将烧毁。当主板发现使用有瑕疵的电容器就应该被拿出处理,直到修理完毕,避免进一步的损害。

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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