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电离层探测分直接探测和间接探测。直接探测是用火箭、卫星等空间飞行器，将探测装置携带到电离层中，探测电离层等离子体或环境对装置的直接作用，以获得电离层特性参量(见电离层直接探测);间接探测是依据天然辐射或人工发射机发射的电磁波通过电离层传播时与等离子体相互作用所产生的电磁效应或传播特征，推算出电离层特性参量。间接探测主要有电离层垂直探测、电离层高频斜向探测、非相干散射探测以及电磁波电离层吸收测量等。
