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平均粒度仪简介

2018/06/1995 作者:佚名
导读: 平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师,至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂,把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪,在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪,后期转为丹东华宇仪器有限公司。

平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师,至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂,把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪,在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪,后期转为丹东华宇仪器有限公司。

Fisher Sub-Sieve Sizer 仪器最早于1943年在美国fisher公司生产,直到2008年该美国fisher公司停止生产该仪器。国内市场生产的平均粒度仪主要是丹东华宇仪器有限公司的产品,主要型号有WLP-202、205、208、216等等,在07年丹东华宇仪器有限公司针对于国外用户需要又增加了WLP-205A平均粒度测定仪、WLP-208A平均粒度测定仪,这二款都扩大了测量范围。

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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