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《影像测量仪技术基础》是国内首部正式出版的关于"影像测量仪"技术专著，2010年3月中国商业出版社出版首次出版。
本书系统地介绍了影像测量仪的相关知识，包括影像测量仪的发展简史，系统结构，测量原理以及配套的测量软件等部分。为了让读者能够更准确的掌握影像测量仪的使用，书中还列举了使用影像测量仪进行几何量测量的几个典型实例，力求让读者对影像测量仪有更深入的了解。
本书有微软全球资深副总裁、著名教授沈向洋博士和欧盟纳米绝对测量首席科学家、原中国计量科学研究院赵克功博士代序。
