A、频率的测量：

① 选择合适的信号输入端：本仪器面板左边有三个信号输入端，最上为30MHz—2.4GHz信号输入端，中间为10Hz—30MHz信号输入端，下面为0.001Hz—100Hz信号输入端，（2.5V—5V有效）。

② 按动“闸门”按键，选好合适的闸门时间，每按动一次“闸门”按键，闸门时间就变化一次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循环变化。闸门时间越长，分辨率越高，但测试速度也越慢。

③ 按动“档位”按键，测频率应选择1、2、3、8各档位中的一个，每档测量频率范围如下：

1档 30MHz——2400MHz

2档 1MHz—30MHz（具有衰减，“A”抬起，x 1；“B”

按下，x 20）

3档 10Hz—1MHz（具有衰减，“A”抬起，x 1；“B”按

下，x 20）

8档 0.001Hz—100Hz（输入幅度：2.5V—5V，TTL电平）

④ 按“确定”键后，即开始测量并显示。

由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。

B、周期的测量：

① 可测量周期的范围：30us—1.19 h，但最多只能显示8位数字。

② 选用中间一个输入端口，测小信号时（35MV—5V）按下“常态/放大”键，“A、B“抬起。测大信号时，“A、B”键和“常态/放大”键同时按入。

③ 如TTL电平从最下面的输入端输入，幅度为2.5V—5V有效，“常态/放大”键和“A、B”键均抬起。

④ 按动“档位”键，选第6档，按“确定”键后即开始测量并显示，单位为微秒。

C、累计计数的方法：

① 选用10Hz—30MHz端口作累计计数输入端。

② 档位选第4档，按下“确定”键后即开始计数。

③ 停止计数需切断信号源。

D、石英晶体固有振荡频率的测量：

① 选好合适的晶体测量口：本仪器面板提供两个晶体测量口，由面板A、B晶体按键来选择。A口可测30KHz—4MHz晶体，B口可测2MHz—24MHz晶体（实际可测到50MHz以上的晶体，24MHz以上晶体用显示值乘以3即为实际振荡频率）。

② 按动“闸门”键，选好合适的闸门时间。

③ 按动“档位”键，选第5档，按“确定”键后即开始测量并显示。

E、手机制式的识别：

① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。

② 选第6档位，按“确定”键，“常态/放大”键抬起。

③ 用手机拨号后如出现4615us或它的整频倍时，则表明该手机是GSM制式，反之是CDMA制。测量时出现7-8个微秒的误差属正常现象。

F、手机发射频率的测量：

① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。

② CDMA制手机和模拟手机选用第1档，GSM手机选用第7档，闸门均选用0.1秒，“常态/放大”键抬起。

③ 按“确定”键后，用手机拨号即可测出并显示手机发射频率。