PLC光器件测试系统技术参数
2018/06/19123
作者:佚名
导读: 测试波长(nm)1310/1490/1550测试指标插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗、均匀性PDL 不确定度±0.04dBPDL 重复性±0.01dB插损不确定度±0.1dB回损不确定度±0.5dB通信接口USB工作温度(°C)-5 ~+60存储温度(℃)-20~+70工作电源AC 220V ±15% 50Hz±10Hz尺寸(mm)300×340×130重量(kg)4.5
测试波长(nm) | 1310/1490/1550 |
测试指标 | 插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗、均匀性 |
PDL 不确定度 | ±0.04dB |
PDL 重复性 | ±0.01dB |
插损不确定度 | ±0.1dB |
回损不确定度 | ±0.5dB |
通信接口 | USB |
工作温度(°C) | -5 ~+60 |
存储温度(℃) | -20~+70 |
工作电源 | AC 220V ±15% 50Hz±10Hz |
尺寸(mm) | 300×340×130 |
重量(kg) | 4.5 |
*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
关注微信公众号造价通(zjtcn_Largedata),获取建设行业第一手资讯