从电离图可以直接读出E、F1、F2、Es等层的临界频率、最小虚高等参数,并可度量出3000公里传输因子,编制成月报表。此外,通过适当的换算，还可以从电离图得出电子密度随高度分布的剖面曲线(图2)。
新技术的采用使垂直探测日臻完善。例如能探测电离层反射点附近电子快速运动技术，提高测高仪的抗干扰能力的脉冲压缩、视频信号鉴别、调频连续波技术，电离图的度量、处理方面的自动化和数字化技术等。
但垂直探测也有它的局限性：难于探测 D层的电离状态，难于获得E层和F层之间谷区（120～140公里）的信息,不能研究F层峰以上的电离层。这些问题需要由其他探测方法来解决（见电离层探测）。（见彩图）
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