质子激发X射线荧光分析非真空分析技术

2018/06/1936 作者：佚名

导读： 质子X 射线荧光分析一般在真空中照射样品(称作真空分析或内束技术)，但也发展了一种非真空分析技术(或称外束技术)，即将质子束从真空室中引出，在空气(或氦气)中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷(质子电荷)而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用，可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样

质子X 射线荧光分析一般在真空中照射样品(称作真空分析或内束技术)，但也发展了一种非真空分析技术(或称外束技术)，即将质子束从真空室中引出，在空气(或氦气)中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷(质子电荷)而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用，可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样品尺寸也可不受靶室的限制。但是空气中的氩和氪对某些轻元素的分析有干扰作用。