正如我们所知道的，只是用一套测试系统无法完成所有光通讯的测试，在整个光通信所用光波段内详细分析无源光器件的特性是很麻烦的，除非全波段测试系统出现。关于无源光器件的测试参照标准你有了解多少呢？下面我们就来详细的了解一下光器件性能优化。
光器件性能优化
兼顾考虑测试时间和系统复杂度这两个方面，最好的折衷方案是使用一个超宽带的可调谐扫频激光器、偏振控制器，再加上若干偏振敏感度低的光电探测器。这样搭配出来的系统，其主要特点是测试耗时少。若该仪器采用全波段可调谐激光器，配合能高速同步的探测器阵列;那么它从1260nm到1630nm仅扫描一次，就可以提供快速的、明了的测试结果。例如，测试一个8通道的CWDM器件的插入损耗，10秒钟即可完成;对于32端口的光分路器，完成插入损耗测试、偏振敏感度测试也不超过1分钟。
此外，为了给基于Mueller矩阵法的PDL测试系统提供统合适的偏振态，测试中需要使用偏振态控制器(光纤卷)，做全态PDL测量时，还需要用扰偏器。全能型全波段测试仪不需要和其他仪器切换，就可以在整个光通信波段实现多通道的IL、ORL以及PDL测试，这就大大提高了测试速度。
尽管这类仪器几乎可用于所有的无源光器件的测试，但是由于它处理的波长范围只有400nm，因此更适用于FTTx以及CWDM这类应用。
无源光器件的测试参照标准
目前无源光器件的测试参照哪些标准?从技术的角度看，这主要受制于可调谐激光器和光探测器。由于FTTx和CWDM技术的演进，像国际电联(ITU)，以及国际电气协会(IEC)等国际组织目前都在致力于研究和投票表决这些新提出的标准。在更宽的波谱范围内测试IL、ORL、PDL以及其他一些重要参数，根据器件的类型，这个波谱范围可以从O波段直到U波段;而对测试的要求正在向全波段发展。
实际上，人们心目中希望的测试系统要能够用于单模光纤的整个通信“窗口”(包括O波段、E波段、S波段、C波段、L波段以及U波段)，在1260nm~1630nm范围内能测试光器件损耗以及偏振，既能测与传输相关的参数，也能测试与反射相关的参数——就是实现所谓的“全波段”测试。
以上就是为大家介绍的无源光器件的测试参照标准与光器件性能优化，菲尼特专注于光通讯产品的研发销售已有12年的时间，并且菲尼特光纤产品均符合ICE,ROSH,YD/T国际国内标准，菲尼特的发展代表了我国光通讯事业的进步，菲尼特的光纤产品系列有许多，例如光纤跳线、MPO/MTP数据中心系列，光纤适配器、光纤光缆等。
