冷热冲击试验

冷热冲击试验又名冷热冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度快速变化的影响。用以确定元件，设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。温度冲击试验是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。

温度冲击试验参考标准：

GB/T 2423.22; IEC 60068-2-13；IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202；GJB 150.5等。

温度冲击试验的目的：

1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；

2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；

3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。

温度冲击试验应用领域：

道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等

计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等

电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA。

电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、医疗器械；

其他：包装箱、运输设备等。

设备型号：CJ602S3 Ⅰ

试验温度范围：-75℃～200℃

高温设定范围：+60℃～+200℃

低温设定范围：0℃～-75℃

温变速率：≤5Min

内箱尺寸：670×650×460mm