第1章逻辑电平和门电路实验

1.0基础知识

用数字信号完成对数字量进行算术运算和逻辑运算的电路称为数字电路，或数字系统。由于它具有逻辑运算和逻辑处理功能，所以又称数字逻辑电路。现代的数字电路由半导体工艺制成的若干数字集成器件构造而成。逻辑门是数字逻辑电路的基本单元。存储器是用来存储二值数据的数字电路。从整体上看，数字电路可以分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。

1.0.1逻辑电平

1.0.2常见逻辑门

逻辑门（Logic Gates)是在集成电路(Integrated Circuit)上的基本组件。简单的逻辑门可由晶体管组成。这些晶体管的组合可以使代表两种信号的高低电平在通过它们之后产生高电平或者低电平的信号。高、低电平可以分别代表逻辑上的“真”与“假”或二进制当中的1和0，从而实现逻辑运算。常见的逻辑门包括“与”门，“或”门，“非”门，“异或”门(Exclusive OR gate)（也称：互斥或）等等。逻辑门可以组合使用实现更为复杂的逻辑运算。

1.1逻辑电平的获取和检测

1.1.1逻辑电平的获取

1.1.2用发光二极管检测逻辑电平

1.1.3用三极管检测逻辑电平

1.1.4用比较器检测逻辑电平

1.1.5逻辑笔的设计和制作

1.1.6逻辑电平工具制作

1.2晶体管开关特性的实验研究

1.2.1实验目的

1.2.2预习要求及思考

1.2.3二极管开关特性

1.2.4三极管开关特性

半导体三极管又称“晶体三极管”或“晶体管”。在半导体锗或硅的单晶上制备两个能相互影响的PN结，组成一个PNP（或NPN）结构。中间的N区（或P区）叫基区，两边的区域叫发射区和集电区，这三部分各有一条电极引线，分别叫基极B、发射极E和集电极C，是能起放大、振荡或开关等作用的半导体电子器件。

1.2.5实验仪器与设备

1.2.6二极管开关特性实验

1.2.7三极管开关特性实验

1.2.8三极管开关的电平变换和限幅实验

1.2.9实验注意事项

1.2.10实验报告要求

1.3分立元件门电路设计

1.3.1设计目的

1.3.2分立元件门电路

1.3.3设计和实验步骤

1.3.4设计报告要求

1.4集成门电路参数测试及逻辑连接

1.4.1实验目的

1.4.2预习要求及思考

1.4.3集成门电路的参数

1.4.4集成逻辑电路使用注意事项

1.4.5实验仪器与设备

1.4.6电压传输特性测试实验

1.4.7集成芯片的连接实验

1.4.8不同逻辑电平芯片间的连接设计

1.4.9实验注意事项

1.4.10实验报告要求

1.5集成OC门和3S门的实验研究

1.5.1实验目的

1.5.2实验原理

1.5.3实验仪器与设备

1.5.4实验内容及步骤

1.5.5信号传输的补充研究

1.5.6实验报告要求

第2章组合逻辑电路实验

2.0基础知识

2.0.1组合逻辑电路

2.0.2组合逻辑的表示方法

2.0.3组合逻辑电路的分析

2.0.4组合逻辑电路的设计

2.0.5常用MSI组合逻辑器件

2.1编码器的实验研究

2.1.1实验目的

2.1.2预习要求

2.1.3编码器和基本与一或逻辑门结构

2.1.4MSI编码器

2.1.5实验仪器与设备

2.1.6实验内容及步骤

2.1.7实验报告要求

2.2用逻辑门设计组合电路

2.2.1实验目的

2.2.2预习要求

2.2.3设计方法

2.2.4设计举例

2.2.5实验仪器与设备

2.2.6设计任务

2.2.7实验报告要求

……

第3章触发器实验

第4章时序逻辑电路实验

第5章脉冲单元电路实验

第6章存储器实验

第7章A/D与D/A转换实验

第8章数字电路应用设计

附录数字电路实验参考资料

参考文献2100433B